[发明专利]光斑位置的检测方法及光斑位置检测系统

说明书

本发明提供了一种光斑位置的检测方法及光斑位置检测系统。光斑位置的检测方法包括：获取像素数据，像素数据为CCD传感器感应激光而生成的数据；根据像素数据确定激光的光斑中的中心像素的位置；根据激光的光斑中的中心像素的位置，确定激光打在CCD传感器上的光斑的位置。本发明的光斑位置的检测方法解决了现有技术中的激光位置的测量精度较低的问题。

技术领域

本发明涉及激光检测领域，具体而言，涉及一种光斑位置的检测方法及光斑位置检测系统。

背景技术

在建筑施工场地，经常需要对水平度、垂直度、平整度进行检测，通常是借助激光扫平仪发出来的扫平激光来检测。具体方法是在地面上或者设备上放置一个或多个激光位置测量装置，来测量扫平激光在激光位置测量装置上的具体位置，进而判断地面或者设备是否水平。

然而，现有的激光位置测量装置的测量精度很低，通常都在1mm～2mm之间，它们大多是基于普通的光电感应材料设计制作的。另外，这些激光位置测量装置对远距离的扫平激光感应很弱，经常测量不到或者测量的误差较大；而且，它们很容易受环境光干扰，影响测量位置。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种光斑位置的检测方法及光斑位置检测系统，以解决现有技术中的激光位置的测量精度较低的问题。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种光斑位置的检测方法，包括：获取像素数据，像素数据为CCD传感器感应激光而生成的数据；根据像素数据确定激光的光斑中的中心像素的位置；根据激光的光斑中的中心像素的位置，确定激光打在CCD传感器上的光斑的位置。

进一步地，根据像素数据确定激光的光斑中的中心像素的位置，包括：获取中心像素对应的序号，序号为对CCD传感器上的所有线性排列的像素进行依次排序得出；根据中心像素对应的序号确定中心像素的位置。

进一步地，根据中心像素对应的序号确定中心像素的位置，包括：对中心像素所对应的序号和像素宽度做乘法运算，得到乘积为激光打在CCD传感器上的光斑的位置，根据激光的光斑中的中心像素的位置，确定激光打在CCD传感器上的光斑的位置，包括：确定激光打在CCD传感器上的光斑的位置为中心像素的位置。

进一步地，获取像素数据，包括：获取CCD传感器产生的模拟信号，对模拟信号进行放大；将放大后的模拟信号转化为数字信号，形成像素数据。

进一步地，获取像素数据，包括：获取安装在检测目标上的至少两个CCD传感器感应激光而生成的像素数据，根据激光的光斑中的中心像素的位置，确定激光打在CCD传感器上的光斑的位置，包括：根据激光在各个CCD传感器上的光斑中的中心像素的位置，确定激光打在各CCD传感器上的光斑的位置，在根据激光的光斑中的中心像素的位置，确定激光打在CCD传感器上的光斑的位置之后，光斑位置的检测方法还包括：确定激光打在任意两个CCD传感器上的光斑的位置是否相同；若相同，则确定检测目标处于水平状态或垂直状态；若不相同，则确定检测目标处于倾斜状态。

进一步地，获取像素数据，包括：获取CCD传感器在检测平面上移动过程中生成的像素数据，根据激光的光斑中的中心像素的位置，确定激光打在CCD传感器上的光斑的位置，包括：根据激光在处于不同位置的CCD传感器上的光斑中的中心像素的位置，确定激光打在不同位置的CCD传感器上光斑的位置，在根据激光的光斑中的中心像素的位置，确定激光打在CCD传感器上的光斑的位置之后，光斑位置的检测方法还包括：确定激光打在不同位置的CCD传感器上的光斑的位置是否相同；若相同，则检测平面的平整度检测合格；若不相同，则检测平面的平整度检测不合格。