[发明专利]一种大扭转叶片的型面测量样板的设计方法在审

专利信息
申请号: 202010958021.X 申请日: 2020-09-14
公开(公告)号: CN113532242A 公开(公告)日: 2021-10-22
发明(设计)人: 王成富;章奇;董欣欣;王薛礼;邹维平;滕树新;潘利军 申请(专利权)人: 无锡透平叶片有限公司
主分类号: G01B5/20 分类号: G01B5/20
代理公司: 无锡盛阳专利商标事务所(普通合伙) 32227 代理人: 张宁
地址: 214174 江苏省无*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 扭转 叶片 测量 样板 设计 方法
【权利要求书】:

1.一种大扭转叶片的型面测量样板的设计方法,其特征在于:将距离大扭转叶片的被测截面上方0.5mm高度处的截面轮廓定义为上截面轮廓,将距离大扭转叶片的被测截面下方0.5mm高度处的截面轮廓定义为下截面轮廓,所述上截面轮廓会与所述下截面轮廓相交于A点,将位于A点外侧的由一半所述上截面轮廓和一半所述下截面轮廓组成的轮廓定义为型面测量样板的理论轮廓,再将所述理论轮廓按照设计包络量向外进行偏置即得到型面测量样板的实际轮廓,按照所述实际轮廓加工制造型面测量样板。

2.根据权利要求1所述的一种大扭转叶片的型面测量样板的设计方法,其特征在于:所述设计包络量为0.5mm~0.8mm。

3.根据权利要求1或2所述的一种大扭转叶片的型面测量样板的设计方法,其特征在于:所述型面测量样板的样板测量面的宽度为1mm,所述样板测量面的两侧加工有棱边。

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