[发明专利]一种用于空间中性原子成分分析仪器的抗干扰方法及系统

权利要求书

1.一种用于空间中性原子成分分析仪器的抗干扰方法，该空间中性原子成分分析仪器包括飞行时间测量模块和MCP探测器，所述方法包括：

接收进入空间中性原子成分分析仪器的待测粒子；

基于飞行时间阈值限制，从待测粒子中甄别出高能带电粒子；

基于MCP脉冲高度阈值限制，从待测粒子中甄别出单个紫外光子或单个极紫外光子；

基于符合二次电子的位置对应关系以及飞行时间的约束条件，从待测粒子中甄别出多个同时进入的紫外光子和或极紫外光子；从而得到待测的中性原子；

所述基于飞行时间阈值限制，从待测粒子中甄别出高能带电粒子；具体为：

读取空间中性原子成分分析仪器的飞行时间测量模块测量得到的待测粒子飞行时间；

将预先测量好的所述空间中性原子成分分析仪器最大量程对应的中性原子的飞行时间作为时间阈值；

将待测粒子飞行时间与时间阈值进行比较，如果待测粒子飞行时间小于时间阈值，则该待测粒子为高能带电粒子；

所述基于MCP脉冲高度阈值限制，从待测粒子中甄别出单个紫外光子或单个极紫外光子；具体包括：

读取待测粒子发射到空间中性原子成分分析仪器的MCP探测器上的脉冲高度；

将预先测量好的单电子脉冲高度作为高度阈值；

将脉冲高度与高度阈值进行比较，如果脉冲高度小于高度阈值，则该待测粒子为单个紫外光子或单个极紫外光子；

所述基于符合二次电子的位置对应关系以及飞行时间的约束条件，从待测粒子中甄别出多个同时进入的紫外光子和或极紫外光子；具体包括：

在空间中性原子成分分析仪器内部设置符合MCP探测器；所述符合MCP探测器用于收集由待测粒子产生的符合二次电子并获得符合二次电子的位置信息；所述符合MCP探测器包括延迟线阳极；

读取所述空间中性原子成分分析仪器的MCP探测器测量得到的符合二次电子的出射位置；

读取符合MCP探测器测量得到的符合二次电子的到达位置信息；

读取空间中性原子成分分析仪器的飞行时间测量模块测量得到的符合二次电子飞行时间；

通过符合二次电子出射位置和到达位置的对应关系以及飞行时间的约束条件，从待测粒子中甄别出多个同时进入的紫外光子和或极紫外光子。

2.根据权利要求1所述的用于空间中性原子成分分析仪器的抗干扰方法，其特征在于，所述待测粒子飞行时间的测量过程为：

由所述空间中性原子成分分析仪器的飞行时间测量模块分别测量待测粒子在空间中性原子成分分析仪器内的起始位置和终止位置的对应时刻，由此计算得到待测粒子飞行时间。