[发明专利]数据处理方法及装置、计算机可读介质及电子设备

权利要求书

1.一种数据处理方法，其特征在于，包括：

获取待处理的特征图，将所述特征图输入膨胀率计算层，以获取所述特征图对应的膨胀率表；其中，所述膨胀率表包括所述特征图中各像素对应的膨胀率值；

将所述膨胀率表输入膨胀卷积层，以使所述膨胀卷积层结合所述膨胀率表对所述特征图进行膨胀卷积处理，以获取所述特征图对应的特征数据。

2.根据权利要求1所述的数据处理方法，其特征在于，所述膨胀率计算层包括至少一个卷积层；

所述将所述特征图输入膨胀率计算层，以获取所述特征图对应的膨胀率表，包括：

对所述特征图进行至少一次的卷积处理，以获取所述膨胀率表。

3.根据权利要求1或2所述的数据处理方法，其特征在于，所述方法还包括：

根据所述特征图的图像尺寸配置所述膨胀率表的图像尺寸；或者，

结合所述特征图的图像尺寸与所述膨胀卷积层的输出通道数配置所述膨胀率表的图像尺寸；或者

结合所述特征图的图像尺寸与所述膨胀卷积层的输出通道的滤波器分组信息配置所述膨胀率表的图像尺寸。

4.根据权利要求3所述的数据处理方法，其特征在于，所述膨胀率表的图像尺寸与所述特征图的图像尺寸相同；或者

所述膨胀率表的图像尺寸为所述特征图的图像尺寸与所述膨胀卷积层的输出通道数的乘积；或者

所述膨胀率表的图像尺寸为所述特征图的图像尺寸与所述膨胀卷积层输出通道数滤波器分组数的乘积。

5.根据权利要求1所述的数据处理方法，其特征在于，所述将所述膨胀率表输入膨胀卷积层，以使所述膨胀卷积层结合所述膨胀率表对所述特征图进行膨胀卷积处理，包括：

查询所述膨胀率表以获取所述特征图中各像素对应的膨胀率值；

根据所述膨胀率值确定对应像素的采样范围，以进行膨胀卷积处理。

6.根据权利要求5所述的数据处理方法，其特征在于，所述查询所述膨胀率表以获取所述特征图中各像素对应的膨胀率值，包括：

对于所述膨胀卷积层的各层输出通道，同一坐标像素在各层输出通道中采用相同的膨胀率值进行膨胀卷积处理；其中，所述膨胀率表与所述特征图的图像尺寸相同。

7.根据权利要求5所述的数据处理方法，其特征在于，所述查询所述膨胀率表以获取所述特征图中各像素对应的膨胀率值，包括：

查询所述膨胀卷积层的各层输出通道对应的膨胀率表，以用于所述特征图分别结合各所述输出通道对应的膨胀率表进行膨胀卷积处理；其中，所述膨胀率表的图像尺寸为所述特征图图像尺寸与所述膨胀卷积层输出通道数的乘积。

8.根据权利要求5所述的数据处理方法，其特征在于，所述查询所述膨胀率表以获取所述特征图中各像素对应的膨胀率值，包括：

根据预设规则对所述膨胀卷积层的各输出通道的滤波器进行分组；

根据分组结果查询各分组对应的膨胀率表，以用于根据各组对应的膨胀率表对所述特征图进行膨胀卷积处理；其中，在各分组中，各输出通道对应的相同坐标像素采用相同的膨胀率值。

9.根据权利要求5-8任一项所述的数据处理方法，其特征在于，所述根据所述膨胀率值确定对应像素的采样范围，包括：

基于所述像素对应的所述膨胀率值，在所述像素的水平方向和竖直方向使用相同间隔进行采样。

10.根据权利要求5-8任一项所述的数据处理方法，其特征在于，所述膨胀率值为整数，或者非整数。

11.根据权利要求10所述的数据处理方法，其特征在于，在所述膨胀率值为非整数时，所述所述根据各所述像素对应的所述膨胀率值进行膨胀卷积，包括：

获取所述像素对应的采样点的邻域像素值，并基于所述邻域像素值计算对应的邻域像素插值；

根据所述邻域像素插值估算所述采样点的特征值，以基于所述采样点的特征值进行膨胀卷积。