[发明专利]精密测量阿贝误差控制系统的使用方法

说明书

本发明公开了一种精密测量阿贝误差控制系统的使用方法，包括十字定位器和激光发射器，十字定位器上设有十字定位点，十字定位点和激光发射器的发射口位置对应，在激光发射器的下方固定有固定座，固定座背离激光发射器发射口的一侧设有微调板，在微调板的上表面设有旋钮，固定座固定在微调板上，并且能够通过旋钮调节固定座的横向位置，固定座的下方设有支撑座，支撑座与固定座之间留有间隙，在支撑座与微调板之间设有连接杆，在支撑座的下方固定有能够调节固定座水平度的水平调节座；通过对影响测量的阿贝误差的监测和调控，采用辅助设备将轴距影响控制在误差的合理范围内，提高精密测量时的精度。

技术领域

本发明涉及精密测量精度辅助控制领域，具体是精密测量阿贝误差控制系统的使用方法。

背景技术

精密超精密测量技术是机械工业发展的基础和先决条件，是先进制造技术的重要组成部分，从生产发展的历史来看，机械加工精度的提高总是与测量技术的发展水平密切相关的。采用千分尺量具能够使加工精度达到0.01mm；采用测微比较仪能够使加工精度达到1μm；现代激光干涉测量方法能够使加工精度达到0.1μm。材料、精密加工、精密测量与控制是现代精密工程的三大支柱。精密加工技术是指被加工零件的尺寸精度在微米级至亚微米级的加工技术；超精密加工技术测试精密加工技术的延伸，是指被加工零件的尺寸精度达到亚微米、表面租糙度下雨0.025μm的加工技术。精密加工的基础便是精密测量，即测量精度在亚微米数量级以上，测量分辨率能够达到纳米级的测量。精密超精密测量主要依靠测量方法、精密检测定位、精密进给控制、精密位移测量、误差补偿、环境控制等实现。

单独的精密测量在实验室的环境条件下已经能够将测量误差控制在合理的范围内，但是当开始批量生产时，由于没有办法提供如同实验室一样的操作环境，所以生产时测量误差还是会较大，从而导致需要精密测量参与的产品的良品率普遍较低，良品率较低便使得相应产品的生产成本大幅上升，这样不仅浪费生产资源，而且不利于精密产品的普及。特别是在精密加工中，首先需要对加工设备的精度进行高标准的要求，这样在使用这些设备进行生产时才能保障产品的精度能够达到相应的标准。所以，如何在精密加工中优化对生产设备精密测量的质量，从而使得精密测量时的误差控制在可控范围内，便成为精密测量精度辅助控制领域亟待解决的问题。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术在采用外差干涉进行精密测量时容易因为阿贝误差的影响而使得测量精度较低的不足，提供了一种精密测量阿贝误差控制系统的使用方法，通过对影响测量的阿贝误差的监测和调控，采用辅助设备将横向方向上的轴距影响控制在误差的合理范围内，提高精密测量时的精度。

本发明的目的主要通过以下技术方案实现：

精密测量阿贝误差控制系统的使用方法，包括以下步骤：

S1：将激光精密测量仪器安装在精密测量阿贝误差控制系统中，调节激光精密测量仪器测量轴线的水平高度到与待测件的运动轴线处于同一水平面；所述精密测量阿贝误差控制系统包括十字定位器和激光发射器，所述十字定位器上设有十字定位点，所述十字定位点和激光发射器的发射口位置对应，在激光发射器的下方固定有固定座，固定座的顶部固定有水平指示器，所述固定座背离激光发射器发射口的一侧设有微调板，在微调板的上表面设有旋钮，所述固定座固定在微调板上，并且能够通过旋钮调节固定座的横向位置，所述固定座的下方设有支撑座，支撑座与固定座之间留有间隙，在支撑座与微调板之间设有连接杆，连接杆的一端与支撑座固定，其另一端与微调板固定，在支撑座的下方固定有能够调节固定座水平度的水平调节座；

S2：观察所述水平指示器，等待水平调节座调节激光精密测量仪器到水平状态；

S3：将所述十字定位器放置于待测件处，并将十字定位点调整到与运动轴线的连接线与地面垂直；

S4：开启激光发射器，同时通过微调板调整固定座的位置，使得激光与十字定位点重合；

S5：关闭激光发射器，完成横向位置调节。