[发明专利]一种单光路精确测量近远场基准与准直装置

权利要求书

1.一种单光路精确测量近远场基准与准直装置，其特征在于，包括沿待准直光输入方向依次放置的第一透镜(1)、第二透镜(2)和CCD(3)；所述的第二透镜(2)位于第一透镜(1)像方焦点之后，且两透镜共焦，所述的第二透镜(2)的焦点位于CCD(3)的像面之上，所述的第一透镜(1)和第二透镜(2)的光轴与CCD(3)像面的法线平行；

所述的第一透镜(1)的两侧镀有半透半反膜，所述的第二透镜(2)的两侧镀有高透膜。

2.根据权利要求1所述的单光路精确测量近远场基准与准直装置，其特征在于，所述的第一透镜(1)的焦距大于第二透镜(2)的焦距，即所述的第一透镜(1)的像方焦点与第二透镜(2)的物方焦点重合。

3.根据权利要求1所述的单光路精确测量近远场基准与准直装置，其特征在于，所述的半透半反膜其折射率T与反射率R均为50％，所述的高透膜是透过率R98.5％的透射膜。

4.根据权利要求1-3任一所述的单光路精确测量近远场基准与准直装置，其特征在于，所述的第一透镜(1)的待准直光入射侧曲率半径为R₁，折射率为n₂，空气折射率为n₁，该第一透镜(1)的出射侧折射率为R₂满足如下公式：

式中，