[发明专利]一种基于光学微带天线非对称集成的二维材料探测器

权利要求书

1.一种基于光学微带天线非对称集成的二维材料探测器，其特征在于：

所述的探测器结构自下到上依次为金属反射面(1)、介质间隔层(2)、二维活性材料层(3)、源电极(4)、金属栅条集成的漏电极(5)；金属栅条集成的漏电极(5)、介质间隔层(2)和金属反射面(1)一起构成光学微带天线；

所述的金属反射面(1)是一层金属反射层，金属反射层的厚度h₁不小于电磁波在该金属中趋肤深度的两倍；金属反射面(1)同时可以作为静电栅控石墨烯的栅极；其材质为高导电性的金属；

所述的介质间隔层(2)是一层工作波段透明的介质，介质厚度h₂要小于探测波长的四分之一；

所述的二维活性材料(3)为具有原子级纵向尺度的材料；

所述的源电极(4)以及金属栅条集成的漏电极(5)，是一层高导电性的金属，金属厚度h₃不小于电磁波在该金属中趋肤深度的两倍，通过栅条周期P、栅条线宽W、栅条长度L₁和沟道长度L₂来确定其结构,其中L₁等于L₂/2，P为光波长的四分之一到二分之一，W为P的三分之一到二分之一。