[发明专利]一种基于双波长差值的强度型SPRi传感系统及方法

权利要求书

1.一种基于双波长差值的强度型SPRi传感系统，其特征在于，包括：依次设置在同一光路上的光源、起偏器、SPR传感模块、窄带滤波片和探测器，以及与所述探测器连接的终端设备；

所述光源发出的宽带光经过所述起偏器产生P偏振光，所述P偏振光入射至所述SPR传感模块，与放置待测样品的所述SPR传感模块产生等离子体共振，形成强度改变的P偏振光，强度改变的P偏振光通过所述SPR传感模块反射至所述窄带滤波片，由所述窄带滤波片进行窄带滤波形成第一波长P偏振光和第二波长P偏振光，所述第一波长P偏振光和所述第二波长P偏振光由所述窄带滤波片出射至所述探测器，由所述探测器形成所述第一波长P偏振光对应的第一SPR传感面图像和所述第二波长P偏振光对应的第二SPR传感面图像，并反馈至所述终端设备，由所述终端设备根据所述第一SPR传感面图像和所述第二SPR传感面图像得到待测样品的检测结果；其中，所述第一波长和所述第二波长分别位于SPR光谱曲线的上升沿线性区和下降沿线性区。

2.根据权利要求1所述的基于双波长差值的强度型SPRi传感系统，其特征在于，所述光源和所述起偏器之间还设置有耦合光纤和准直扩束模块；

所述光源发出的宽带光经过所述耦合光纤耦合至所述准直扩束模块，由所述准直扩束模块对所述耦合光纤耦合后的宽带光进行准直扩束。

3.根据权利要求1所述的基于双波长差值的强度型SPRi传感系统，其特征在于，所述SPR传感模块与所述窄带滤波片之间设置有第一成像透镜、第一检偏器以及双色镜；

所述SPR传感模块反射的强度改变的P偏振光通过所述第一成像透镜收集，由所述第一成像透镜出射至所述第一检偏器进行过滤，过滤后的强度改变的P偏振光入射至所述双色镜，由所述双色镜出射至所述窄带滤波片。

4.根据权利要求3所述的基于双波长差值的强度型SPRi传感系统，其特征在于，所述窄带滤波片包括第一窄带滤波片和第二窄带滤波片，所述探测器包括第一探测器和第二探测器；

所述第一检偏器过滤后的强度改变的P偏振光通过所述双色镜透射和反射至所述第一窄带滤波片和所述第二窄带滤波片，由所述第一窄带滤波片和所述第二窄带滤波片进行窄带滤波形成第一波长P偏振光和第二波长P偏振光，所述第一波长P偏振光由所述第一窄带滤波片出射至所述第一探测器，形成所述第一波长P偏振光对应的第一SPR传感面图像，所述第二波长P偏振光由所述第二窄带滤波片出射至所述第二探测器，形成所述第二波长P偏振光对应的第二SPR传感面图像。

5.一种基于双波长差值的强度型SPRi传感系统，其特征在于，包括：依次设置在同一光路上的光源、起偏器、SPR传感模块和探测器，以及与所述探测器连接的终端设备；

所述光源发出的第一波长激发光和第二波长激发光经过所述起偏器产生第一波长P偏振光和第二波长P偏振光，所述第一波长P偏振光和所述第二波长P偏振光入射至所述SPR传感模块，与放置待测样品的所述SPR传感模块产生等离子体共振，形成强度改变的第一波长P偏振光和强度改变的第二波长P偏振光，强度改变的第一波长P偏振光和强度改变的第二波长P偏振光通过所述SPR传感模块反射至所述探测器，由所述探测器形成强度改变的第一波长P偏振光对应的第三SPR传感面图像和强度改变的第二波长P偏振光对应的第四SPR传感面图像，并反馈至所述终端设备，由所述终端设备根据所述第三SPR传感面图像和所述第四SPR传感面图像得到待测样品的检测结果；其中，所述第一波长和所述第二波长分别位于SPR光谱曲线的上升沿线性区和下降沿线性区。

6.根据权利要求5所述的基于双波长差值的强度型SPRi传感系统，其特征在于，所述光源和所述起偏器之间还设置有耦合光纤和准直扩束模块；

所述光源发出的第一波长激发光和第二波长激发光经过所述耦合光纤耦合至所述准直扩束模块，由所述准直扩束模块对所述耦合光纤耦合后的第一波长激发光和第二波长激发光进行准直扩束。