[发明专利]测试电路及显示面板测试方法有效

专利信息
申请号: 202010968733.X 申请日: 2020-09-15
公开(公告)号: CN112015017B 公开(公告)日: 2022-09-27
发明(设计)人: 曹志浩;聂晓辉 申请(专利权)人: 武汉华星光电技术有限公司
主分类号: G02F1/1362 分类号: G02F1/1362;G09G3/00;G02F1/133;G02F1/1343
代理公司: 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 代理人: 杨艇要
地址: 430079 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 测试 电路 显示 面板 方法
【说明书】:

本申请公开了一种测试电路及显示面板测试方法,所述测试电路用以测试显示面板,其包括:至少两个测试端子;至少两个薄膜晶体管,每一薄膜晶体管的源极电连接至一个测试端子,每一薄膜晶体管的漏极电连接至显示面板的显示区;驱动IC,其信号输出端电连接至所述显示面板的显示区和所述薄膜晶体管的漏极;保护电路,连接至所有薄膜晶体管的栅极;当所述测试端子之间未发生短路时,所述保护电路向所述薄膜晶体管的栅极输入高电平;当所述测试端子之间发生短路时,所述保护电路向所述薄膜晶体管的栅极输入低电平。

技术领域

本申请涉及显示技术领域,尤其涉及一种测试电路及显示面板测试方法。

背景技术

为有效检出显示面板显示功能不良,一般会在阵列基板(Thin Film Transistor,TFT)端子区设置测试电路。测试电路设计多组测试端子(pad),当TFT基板和彩膜基板(Color Filter,CF)组立成液晶盒(Cell)后,利用治工具探针将测试信号接入测试端子,即可对面板点亮,实现检测显示功能不良的目的。测试端子一般只用作液晶盒测试时信号输入,当液晶盒制作成显示模组后,测试信号通过驱动IC输入,此时测试端子已无测试需求。但是,由于测试端子与测试电路、驱动电路及像素电路连接,因此显示模组测试端子带有电性号。

在显示屏的模组制程中,为了消除CF基板与TFT基板之间的电势差,避免静电放电的现象发生,一般通过涂布银胶的方式将两者导通。银胶涂布的位置位于TFT基板端子区,与测试端子位置相近。具体的,如图1所示,所述TFT基板端子区包括接触端子H和测试端子T,测试端子T包括第一测试端子T1和第二测试端子T2,第一测试端子T1通过第一驱动信号线20a连接至驱动IC20,第二测试端子T2通过第二驱动信号线20b连接至驱动IC20。

由于银胶具有较强的流动性,相邻测试端子T之间间距很小,因此当涂布工艺精度欠佳时,银胶极易溢出(即银胶异常)导致相邻测试端子T发生短路,参照图2所示,导致连接测试端子T的两根线上信号相互影响,造成点灯异常,从而造成模组显示不良。另外,在测试端子T上修补银胶容易造成线路划伤。

发明内容

本发明的目的在于,提供一种测试电路及显示面板测试方法,以解决显示面板的银胶异常时导致相邻测试端子之间发生短路,且在修补银胶时造成线路划伤的技术问题。

为实现上述目的,本发明提供一种测试电路,用以测试显示面板,包括:

至少两个测试端子;至少两个薄膜晶体管,每一薄膜晶体管的源极电连接至一个测试端子,每一薄膜晶体管的漏极电连接至显示面板的显示区;驱动IC,其信号输出端电连接至所述显示面板的显示区和所述薄膜晶体管的漏极;保护电路,连接至所有薄膜晶体管的栅极;当所述测试端子之间未发生短路时,所述保护电路向所述薄膜晶体管的栅极输入高电平;当所述测试端子之间发生短路时,所述保护电路向所述薄膜晶体管的栅极输入低电平。

进一步地,当所述测试端子之间未发生短路时,所述保护电路为一电容,所述电容的一电极连接至所述薄膜晶体管的栅极,且输入高电平;所述电容的另一电极输入低电平。

进一步地,当所述测试端子之间发生短路时,所述保护电路为一信号线,其一端连接至所述薄膜晶体管的栅极,所述信号线用以输入低电平。

进一步地,当所述测试端子之间发生短路时,短路的测试端子之间相邻或不相邻,或有些测试端子之间相邻、有些测试端子之间不相邻。

进一步地,当所述测试端子之间发生短路时,所述薄膜晶体管的漏极产生的信号干扰所述驱动IC的驱动信号,所述显示面板画面产生异常。

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