[发明专利]显示装置以及显示装置的检查方法在审

专利信息
申请号: 202010969390.9 申请日: 2020-09-15
公开(公告)号: CN112530330A 公开(公告)日: 2021-03-19
发明(设计)人: 小日向直之;笹沼启太;山本昌伯 申请(专利权)人: 株式会社日本显示器
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 闫剑平
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 显示装置 以及 检查 方法
【说明书】:

本发明提供一种能够提高因扫描线的断线引起的显示异常的检测精度的显示装置以及显示装置的检查方法。显示装置(1)具备:在显示区域(21)呈矩阵状配置的多个像素;扫描线(SCL),其与在显示区域中沿一方向排列的各像素连接,向该扫描线(SCL)供给扫描信号(Vscan);从扫描线(SCL)的一端供给扫描信号(Vscan)的第1栅极驱动器(22‑1);从扫描线(SCL)的另一端供给扫描信号(Vscan)的第2栅极驱动器(22‑2);以及控制显示区域(21)中的画面显示的显示控制电路(4)。显示控制电路(4)在检查工序中将扫描线(SCL)的一端或者另一端浮置,进行显示区域(21)的所有像素点亮显示。

技术领域

本发明涉及显示装置以及显示装置的检查方法。

背景技术

专利文献1中公开了检测信号线或扫描线的断线、或者构成显示区域的各要素的劣化的技术。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:JP特开2017-181574号公报

发明内容

近年来,伴随显示装置的大型化,出于扫描线的时间常数减少的目的,将栅极驱动器配置在显示区域的相对的两边并从扫描线的两侧供给扫描信号的构成成为主流。在这种构成中,即使在制造工艺中发生了扫描线的断线,由于从扫描线的两端供给扫描信号,所以有在单元的点亮检查中无法检测到因扫描线的断线引起的显示异常的情况。在该情况下,有可能因由像素晶体管的通电引起的Vth的变化而产生横线等的显示异常,因此,在检查工序中,需要提高因制造工艺中的扫描线的断线引起的显示异常的检测精度。

本发明是鉴于上述问题而提出的,其目的在于提供一种能够提高检测因扫描线的断线引起的显示异常的检测精度的显示装置以及显示装置的检查方法。

本发明的一个方面的显示装置具备:在显示区域呈矩阵状配置的多个像素;扫描线,其与在所述显示区域中沿一个方向排列的各所述像素连接,向该扫描线供给扫描信号;从所述扫描线的一端供给所述扫描信号的第1栅极驱动器;从所述扫描线的另一端供给所述扫描信号的第2栅极驱动器;以及控制所述显示区域中的画面显示的显示控制电路,所述显示控制电路在检查工序中将所述扫描线的一端或者另一端浮置,进行所述显示区域的所有像素点亮显示。

本发明的一个方面的显示装置的检查方法,其中,所述显示装置具备:在显示区域呈矩阵状配置的多个像素;扫描线,其与在所述显示区域中沿一个方向排列的各所述像素连接,向该扫描线供给扫描信号;从所述扫描线的一端供给所述扫描信号的第1栅极驱动器;以及从所述扫描线的另一端供给所述扫描信号的第2栅极驱动器,所述显示装置的检测方法的特征在于,包括:将所述扫描线的一端浮置而进行所述显示区域的所有像素点亮显示的步骤;以及将所述扫描线的另一端浮置而进行所述显示区域的所有像素点亮显示的步骤。

附图说明

图1是示出实施方式的显示装置的概略结构的一例的图。

图2是示出实施方式的显示装置的框结构的一例的图。

图3A是示出第1栅极驱动器以及第2栅极驱动器的概略结构的一例的图。

图3B是示出第1栅极驱动器以及第2栅极驱动器的概略结构的一例的图。

图3C是示出第1栅极驱动器以及第2栅极驱动器的概略结构的一例的图。

图4是示出实施方式的显示装置的检查方法的具体的处理流程的一例的图。

图5A是示出实施方式的显示装置的检查方法的开关控制的第1例的概略图。

图5B是示出实施方式的显示装置的检查方法的开关控制的第1例的概略图。

图6A是示出实施方式的显示装置的检查方法的开关控制的第2例的概略图。

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