[发明专利]一种T/R阵列自动测试系统校准套件、测试系统及测试方法在审

专利信息
申请号: 202010974119.4 申请日: 2020-09-16
公开(公告)号: CN111896925A 公开(公告)日: 2020-11-06
发明(设计)人: 韩周安;彭安虎;彭毅 申请(专利权)人: 成都爱科特科技发展有限公司
主分类号: G01S7/40 分类号: G01S7/40
代理公司: 成都金英专利代理事务所(普通合伙) 51218 代理人: 袁英
地址: 610000 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 阵列 自动 测试 系统 校准 套件 方法
【权利要求书】:

1.一种T/R阵列自动测试系统校准套件,其特征在于,所述T/R自动测试系统校准套件包含套件箱体以及设置于箱体内的一个和/或多个校准模块,所述校准模块包括设置于印制板的直通标准件T、延迟线标准件L、第一反射标准件R、第二反射标准件R’(与R标准件特性参数一致)以及设置于套件箱体上连接每个标准件两端的射频接头,通过T/R测试系统连接每个标准件两端的射频接头对标准模块进行测试。

2.如权利要求1所述的一种T/R阵列自动测试系统校准套件,其特征在于,所述多个校准模块中的相邻校准模块通过支架进行物理连接。

3.如权利要求1所述的一种T/R阵列自动测试系统校准套件,其特征在于,所述校准件两端的射频接头采用2.92mm的SMP接头,便于测试拔插。

4.如权利要求1所述的一种T/R阵列自动测试系统校准套件,其特征在于,所述标准模块中的印制板采用Rogress4350板材。

5.如权利要求1所述的一种T/R阵列自动测试系统校准套件,其特征在于,所述校准模块中各个标准件之间采用金属隔条分割,防止校准信号的耦合和串扰。

6.一种T/R阵列自动测试系统,包括如权利要求1-5任意一项所述的一种T/R阵列自动测试系统校准套件,其特征在于,还包括嵌入网络A、嵌入网络B、矢量网络分析仪和处理终端,其中所述T/R阵列自动测试系统校准套件的射频接头分别连接嵌入网络A和嵌入网络B的一端,所述矢量网络分析仪连接嵌入网络A和嵌入网络B的另一端,所述处理终端连接矢量网络,通过控制射频信号输入与输出实现嵌入网络A和嵌入网络B的误差提取。

7.一种T/R阵列自动测试方法,采用如权利要求6所述的一种T/R阵列自动测试系统,其特征在于,包括如下步骤:

自校准:在校准工具套件之前,先对T/R阵列自动测试系统中的矢量网络分析仪进行SOLT自校准;

校准模式选择:根据是否远控T/R阵列自动测试系统中的矢量网络分析仪,选择离线校准模式或在线校准模式;

嵌入网络误差提取:通过控制射频信号输入与输出实现对嵌入微波测试网络中的误差的提取;

计算待测件真实指标:通过从测试结果中扣除嵌入成分,获得待测件的真实指标。

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