[发明专利]一种锥体零件的锥度和小端直径的检测装置在审
申请号: | 202010974330.6 | 申请日: | 2020-09-16 |
公开(公告)号: | CN112097720A | 公开(公告)日: | 2020-12-18 |
发明(设计)人: | 徐旭松;朱敏浩;叶超;刘艳旭;孙志英 | 申请(专利权)人: | 江苏理工学院 |
主分类号: | G01B21/22 | 分类号: | G01B21/22;G01B21/10;G01B21/02 |
代理公司: | 常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙) 32231 | 代理人: | 毛姗 |
地址: | 213001 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 锥体 零件 锥度 端直 检测 装置 | ||
本发明尤其涉及一种锥体零件的锥度和小端直径的检测装置,包括测量基板;测量基板上固设有支架,第一横杆沿竖直方向滑动设在支架上,第二横杆沿水平方向滑动设在第一横杆上,第三横杆、第四横杆、第一测杆和第二测杆均沿水平方向滑动设在第二横杆上,且其滑动方向均垂直于第二横杆的滑动方向,第三横杆上滑动设有第三测杆,第四横杆上滑动设有第四测杆,且第三测杆和第四横杆的滑动方向均平行于第二横杆的滑动方向;测量基板上设有用于固定待测锥体零件的夹具,锥体零件的轴线方向与第一测杆的滑动方向一致;第一测杆上固设有第一测头,第二测杆上固设有第二测头;第三测杆上转动设有第三测头,第四测杆上转动设有第四测头。
技术领域
本发明属于机械加工检测与精度测量技术领域,尤其涉及一种锥体零件的锥度和小端直径的检测装置。
背景技术
锥体零件的锥度和小端直径等尺寸需要测量,目前使用如游标卡尺和角度测量尺等一类的传统测量装置,可以通过使用游标卡尺来测量锥体零件的大端直径尺寸,然后再通过使用角度测量尺来测量锥体零件的角度,从而通过数学计算得到小端的尺寸,然后再通过锥度计算公式计算出锥度的大小。但是由于游标卡尺和角度测量尺的局限性,如一些大型的锥体零件,游标卡尺就很难进行测量,如锥体零件比较复杂时,锥体零件的角度就很难测量,因此可能还需要借助其它工具进行辅助测量,所以测量相当不方便且效率较低,同时精度往往达不到要求,而且还可能受到工件上结构的影响。而现有的一些高精度测量装置能够达到要求,如三坐标测量能够准确的测量,具有很高的精度,但它检测成本高,不适合大批量检测。
传统的测量装置和现有的一些高精度测量装置存在上述的问题,为了能够提高检测的精度和效率,同时又能降低成本,因此,本发明提供一种锥体零件的锥度和小端直径的检测装置,以能够克服目前存在问题,使测量更加高效,操作简单,结果精确,适用范围较广,有一定的市场推广前景。
发明内容
为解决现有技术存在的,使用传统测量装置测量锥体零件的检测效率低和检测精度低,以及使用三坐标测量锥体零件的检测成本高的问题,本发明提供一种锥体零件的锥度和小端直径的检测装置。
为解决上述技术问题,本发明所采用的技术方案如下,一种锥体零件的锥度和小端直径的检测装置,包括测量基板、支架、第一横杆、第二横杆、第三横杆、第四横杆、第一测杆、第二测杆、第三测杆和第四测杆;所述支架固定设置在测量基板上,所述第一横杆沿竖直方向滑动设置在支架上,所述第二横杆沿水平方向滑动设置在第一横杆上,所述第三横杆、第四横杆、第一测杆和第二测杆均沿水平方向滑动设置在第二横杆上,且所述第三横杆、第四横杆、第一测杆和第二测杆的滑动方向相同,其均垂直于所述第二横杆的滑动方向,所述第三横杆上滑动设置有第三测杆,所述第四横杆上滑动设置有第四测杆,且所述第三测杆和第四测杆的滑动方向相同,其均平行于所述第二横杆的滑动方向;
所述测量基板上设置有用于固定待测锥体零件的夹具,所述锥体零件的轴线方向与第一测杆的滑动方向一致;所述第一测杆上固定设置有第一测头,所述第二测杆上固定设置有第二测头,所述待测锥体零件位于第一测头和第二测头之间;所述第三测杆上转动设置有第三测头,所述第四测杆上转动设置有第四测头,所述第三测头和第四测头的转动轴线均朝向竖直方向,所述待测锥体零件位于第三测头和第四测头之间;
所述第一测杆和第二测杆之间设置有第一距离传感器,所述第三测杆和第四测杆之间设置有第二距离传感器,所述第三测头上设置有第一角度传感器,所述第四测头上设置有第二角度传感器。
作为优选,所述第三测头和第四测头靠近待测锥体零件的侧面均呈矩形。当该检测装置检测待测锥体零件的锥体角度时,首先使第三测头和第四测头分别和待测锥体零件的大端直径两侧接触,再将第三测头和第四测头分别转过一个角度,使得第三测头和第四测头分别和待测锥体零件的锥面相切,在此过程中,第一角度传感器和第二角度传感器均测得待测锥体零件的锥体角度,第三测头和第四测头靠近待测锥体零件的侧面均呈矩形,便于与待测锥体零件的锥面相切,提高操作精度,提高该检测装置的测量精度。
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