[发明专利]一种钕铁硼磁体及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202010974691.0 申请日: 2020-09-16
公开(公告)号: CN113270241B 公开(公告)日: 2023-06-02
发明(设计)人: 周头军;刘仁辉;潘为茂;钟震晨;黎绵付 申请(专利权)人: 江西理工大学;虔东稀土集团股份有限公司
主分类号: H01F1/057 分类号: H01F1/057;H01F41/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 341000 *** 国省代码: 江西;36
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摘要:
搜索关键词: 一种 钕铁硼 磁体 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种钕铁硼磁体的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:

将不含Dy的钕铁硼主合金粉A与含Dy的钕铁硼辅合金粉B,按比例混合后烧结,得到含Dy核壳结构的基体;

将基体置于含Tb物质中,得到中间体;所述将基体置于含Tb物质中包括在基体表面涂敷Tb化合物或金属Tb粉,以及溅射金属Tb中至少一种,所述Tb化合物为氢化铽、铽铜氢化物或Tb70Cu20Ga10中至少一种;

将中间体置于烧结炉中进行Tb扩散,得到Dy-Tb双层核壳结构的烧结钕铁硼磁体,所述钕铁硼磁体不含La和/或Ce、Sm、Eu、Gd、Er、Tm、Yb、Lu、Y元素。

2.如权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述钕铁硼磁体表层的钕铁硼晶粒具有Dy-Tb双层核壳结构,所述Dy-Tb双层核壳结构中Dy核壳位于Tb核壳的内部,所述钕铁硼磁体表层的厚度≤150μm。

3.如权利要求2所述的制备方法,其特征在于,所述钕铁硼磁体表层的厚度≤20μm。

4.如权利要求2所述的制备方法,其特征在于,所述钕铁硼磁体表层的厚度≤15μm。

5.如权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述扩散温度为850-930℃,扩散时间为4h-16h。

6.如权利要求1所述的制备方法,其特征在于,扩散后还包括回火步骤。

7.如权利要求6所述的制备方法,其特征在于,所述回火步骤为温度490℃,时间3h。

8.如权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述钕铁硼磁体的磁能积提升≥0.29MGOe。

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