[发明专利]一种解决单层陶瓷电容器划片后毛刺问题的工艺在审
申请号: | 202010975030.X | 申请日: | 2020-09-16 |
公开(公告)号: | CN112259377A | 公开(公告)日: | 2021-01-22 |
发明(设计)人: | 刘云志;杨国兴;吴继伟 | 申请(专利权)人: | 大连达利凯普科技股份公司 |
主分类号: | H01G4/12 | 分类号: | H01G4/12;H01G13/00 |
代理公司: | 大连智高专利事务所(特殊普通合伙) 21235 | 代理人: | 毕进 |
地址: | 116630 辽宁省大连*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 解决 单层 陶瓷 电容器 划片 毛刺 问题 工艺 | ||
1.一种解决单层陶瓷电容器划片后毛刺问题的工艺,其特征在于,步骤如下:
S1、金属化:采用磁控溅射加工工艺,在瓷片表面形成一组导电且具有结合力的多层金属层;
S2、匀胶:在金属化完毕后的产品表面均匀涂一层胶层做保护;
S3、曝光:使用掩膜板进行图形曝光,使切割道区域受光,发生化学反应;
S4、显影:受光位置变性后在显影液里发生化学反应,使其脱落,形成图形;
S5、镀金:在受光位置的基片表面进行电镀金,使其厚度达到2.5um以上;
S6、去胶:去掉切割道表层的保护胶;
S7、划片:用刀片进行切割加工,整个切割道是在刀片路径内;
S8、测试:进行电性能测试和外观检查。
2.如权利要求1所述的解决单层陶瓷电容器划片后毛刺问题的工艺,其特征在于,所述胶层的厚度为4-5um。
3.如权利要求1所述的解决单层陶瓷电容器划片后毛刺问题的工艺,其特征在于,曝光、显影后切割道宽度小于刀片宽度5-10um。
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