[发明专利]一种适用于电子测量仪器使用率的统计系统在审
申请号: | 202010976663.2 | 申请日: | 2020-09-17 |
公开(公告)号: | CN112084101A | 公开(公告)日: | 2020-12-15 |
发明(设计)人: | 刘辉;韩敬伟;李文博;张全金;牛博;陈开仁 | 申请(专利权)人: | 中电科仪器仪表有限公司 |
主分类号: | G06F11/34 | 分类号: | G06F11/34;G06F11/30;G06Q10/06;G07C1/10 |
代理公司: | 青岛智地领创专利代理有限公司 37252 | 代理人: | 林琪超 |
地址: | 266555 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 适用于 电子测量仪器 使用率 统计 系统 | ||
本发明公开一种适用于电子测量仪器使用率的统计系统,包括运行于电子测量仪器内部的监测程序和安装在电子测量仪器外部的人体红外感知装置,人体红外感知装置与电子测量仪器电连接,人体红外感知装置与监测程序以串口模式进行通信。人体红外感知装置包括长方体的壳体,在壳体的正端面上设置有人体红外热释感应器,壳体安装在电子测量仪器的上部或者下部;监测程序包括仪器主程序进程监测模块、仪器键盘和鼠标监测模块、仪器程控命令监测模块、仪器屏幕触摸事件监测模块等模块。本发明提供了一种可操作性强、针对性强的电子测量仪器使用率统计系统,可为电子测量仪器的使用率统计提供真实、有效的数据,切实、有效地解决仪器资产使用率统计不准确的问题。
技术领域
本发明涉及电子测量仪器使用率统计领域,具体涉及一种适用于电子测量仪器使用率的统计系统。
背景技术
电子测量仪器是电子制造、航空航天、国防军工等领域的重资产,其效能管理成为实现机构业务目标和创新管理的重要因素,而使用率则是其中的一个关键指标。电子测量仪器一般有两种工作模式,分别是人工操作模式和计算机程控模式。测量仪器的实际工作过程一般包括测试准备、正式测试、结果分析等基本过程。目前常用的仪器使用率监测方法,包括电流监测、瞬时功率监测、前面板交互事件监测、总线流量监测、开关机事件监测、操作视频分析、微振动监测等方式来进行,误差较大且适用面有限,无法准确获得使用率数据,严重影响机构自身仪器资产的调配和采购决策。
电子测量仪器使用率一般用一定时间长度内的实际使用时长除以这段时间长度的总时长来表示。为了获取仪器的实际使用时长,目前可用的方法包括:(1)监测仪器的开关机时间作为使用时间;(2)通过监测仪器的电压电流和实时功率识别出使用时长;(3)通过监测仪器前面板操作事件计算工作时长;(4)通过监测仪器总线流量计算工作时长;(5)通过分析仪器现场视频或图像,识别出使用模式进而计算出使用时长;(6)通过监测仪器的微振动来获取仪器开关机工作状态。仪器开机后,内置风扇的转动产生微振动,通过微振动传感器对振动信息进行监测,如监测到振动,则认为仪器处于开机工作状态。
以下给予详细的介绍:
(1)监测仪器的开关机时间,将其作为仪器使用时间。即仪器开机即认为处于工作状态,关机则仪器处于闲置状态。这种方式误差很大,因为仪器开机并不一定被使用,还可能处于闲置空转状态。
(2)通过监测仪器的电压电流和实时功率识别出使用模式。通过串联到仪器供电线路中的电路模块,获取仪器工作时的电压电流变化数据,通过电流数据和仪器状态之间的关系,确定仪器的工作状态,得出仪器的实际使用情况。这种方法存在多方面的局限性,一是很多电子测量仪器开机即工作在额定功率下,功率波动很小,此时该方法基本无效;二是对于某些仪器而言,即使产生功率波动,由于仪器内部组件组合工作的复杂性,所产生的功率波动也无法体现出仪器处于真实使用状态。此外,该方法要求很高的电流计量精度,小型模块难以达成要求。
(3)通过监测仪器前面板操作事件计算工作时长。该方法认为如果存在前面板操作则仪器处于使用状态。如前所述,由于测量仪器的实际工作过程一般包括测试准备、正式测试、结果分析等基本过程。该种方法无法识别测试准备和结果分析过程。前面板操作还忽略了仪器外接键盘、鼠标等输入设备时的事件,使得仪器使用率计算不准确。
(4)通过监测仪器总线流量计算工作时长。该种方法以仪器总线接口中存在数据或程控指令流量为依据判断仪器处于使用状态。该种方法只适合仪器的程控工作模式且同样无法识别测试准备和结果分析过程。
(5)通过分析仪器现场视频或图像识别出使用模式。通过摄像头和多种传感器,采集设备和工作人员的现场数据,通过特征提取、数据挖掘、机器学习等方法分析、识别设备的使用状况。此时往往要求人员对仪器进行操作或者相关设备进行指定的动作或仪器产生有意义的数据界面。该方法误差也很大,例如仪器在程控模式下,没有人员在现场进行操作。而由于仪器测试数据的随机性,从测试数据判断是否使用本身就未必精确,且基本不可能设计出可适用所有测试界面的通用方法。
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