[发明专利]用于使像素电路均衡化的方法和系统有效
申请号: | 202010978425.5 | 申请日: | 2016-01-06 |
公开(公告)号: | CN112201205B | 公开(公告)日: | 2023-03-28 |
发明(设计)人: | 戈尔拉玛瑞扎·恰吉;里基·依克·黑·奈根;尼诺·扎西洛维奇 | 申请(专利权)人: | 伊格尼斯创新公司 |
主分类号: | G09G3/3225 | 分类号: | G09G3/3225;G09G3/3233 |
代理公司: | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人: | 陈睆;曹正建 |
地址: | 加拿大*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 像素 电路 均衡 方法 系统 | ||
1.一种用于使像素电路阵列中的像素电路均衡化的方法,所述像素电路包括在不同的环境和应力条件下有差异地老化的半导体器件,所述方法包括:
a)在使用周期期间,使用控制器创建所述像素电路的应力历史,所述应力历史包括与所述像素电路已经经受的应力的历史相关的数据;
b)在所述使用周期期间或所述使用周期之后,使用电压传感器、电流传感器和光传感器中的至少一者从所述像素电路阵列中提取像素参数;
c)基于所提取的所述像素参数和所述应力历史,使用所述控制器更新所述像素电路阵列的应力图案;
d)根据所述应力图案,使所述像素电路受到应力;
e)使用所述电压传感器、所述电流传感器和所述光传感器中的至少一者从受到应力的所述像素电路中提取所述像素参数;
f)使用所述控制器确定从受到应力的所述像素电路中提取的所述像素参数是否处于预先选择的范围内;且
当所述像素参数不处于预先选择的范围内时:更新所述应力历史,并且重复步骤c)至f);且
当所述像素参数处于预先选择的范围内时,使所述像素电路阵列返回到正常操作。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述像素参数包括各个有源像素电路中的驱动晶体管的阈值电压。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述像素参数包括亮度水平。
4.根据权利要求1所述的方法,其中,所述像素参数包括各个像素电路的电流输出。
5.根据权利要求1所述的方法,其中,所述像素参数包括在整个所述像素电路阵列上的所述像素参数之间的差异。
6.根据权利要求1所述的方法,其中,步骤d)包括使用电流源向所述像素电路施加应力。
7.根据权利要求1所述的方法,其中,所述应力历史包括应力时间和应力水平。
8.根据权利要求1所述的方法,其中,所述应力历史包括在所述使用周期期间各个像素电路的平均应力条件。
9.根据权利要求1所述的方法,其中,步骤e)与步骤d)同时进行。
10.根据权利要求1所述的方法,其中,在步骤d)之后进行步骤e)。
11.一种系统,其包括:
多个像素电路,所述多个像素电路用于显示图像,所述像素电路各自包括在不同的环境和应力条件下有差异地老化的半导体器件;
控制器,所述控制器被连接至所述多个像素电路,并且被配置为:
a)在使用周期期间或所述使用周期之后,创建所述多个像素电路的应力历史,所述应力历史包括与所述多个像素电路已经经受的应力的历史相关的数据;
b)在所述使用周期之后,进行控制以从所述多个像素电路中提取像素参数;
c)基于所提取的所述像素参数和所述应力历史,更新所述多个像素电路的应力图案;
d)根据所述应力图案,进行控制以向所述多个像素电路施加应力;
e)进行控制以从受到应力的所述像素电路中提取所述像素参数;
f)确定从受到应力的所述像素电路中提取的所述像素参数是否处于预先选择的范围内;且
当所述像素参数不处于预先选择的范围内时:更新所述应力历史,并且重复步骤c)至f);且
当所述像素参数处于预先选择的范围内时,使所述多个像素电路返回到正常操作。
12.根据权利要求11所述的系统,其中,所述像素参数包括所述多个像素电路的至少一者中的驱动晶体管的阈值电压;且
所述系统进一步包括电压传感器,所述电压传感器用于提取所述阈值电压。
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