[发明专利]模拟量校准方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本发明公开了一种模拟量校准方法、装置、电子设备及存储介质，其中模拟量校准方法包括：获取多个模拟量输入值和对应的多个模拟量输出值；利用所述多个模拟量输入值和所述多个模拟量输出值训练拟合模型得到拟合函数；根据所述拟合函数计算得到校准结果。通过上述模拟量校准方法，能够减少物料差异对采集精度的影响，提高数据处理的效率。

技术领域

本发明涉及数据处理技术领域，尤其是涉及一种模拟量校准方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

模拟量采集的前期设计均采用理论设计，而理论设计通常忽略了电路元器件的质量以及采样芯片的精度，然而采样芯片之间存在不可避免的物料差异，导致量产后的芯片产品的性能不及预设效果。

目前，用户是通过查询对应的芯片手册，对ADC进行采集模式的配置，随后对其采样后的编码结果进行读取，并对照编码的规则以及外围电路的设计对采集的结果进行还原，进而获知本次采样的模拟量结果，最后将此结果作为执行某些行为的判断依据，然而这种方法通常由于测量通道间影响造成较大的误差，若只采用同一套不带校准的驱动程序进行模拟量的采集，则会导致产品表现参差不齐，当采集信号越弱，上述情况就越明显。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提出一种模拟量校准方法，能够减少物料差异对采集精度的影响，提高数据处理效率的同时还能减少内存占用。

本发明还提出一种模拟量校准装置。

本发明还提出一种电子设备。

本发明还提出一种计算机可读存储介质。

根据本发明的第一方面实施例的模拟量校准方法，包括：

获取多个模拟量输入值和对应的多个模拟量输出值；

利用所述多个模拟量输入值和所述多个模拟量输出值训练拟合模型得到拟合函数；

根据所述拟合函数计算得到校准结果。

根据本发明第一方面实施例的模拟量校准方法，至少具有如下有益效果：通过获取的多个模拟量输入值和对应的多个模拟量输出值，来训练拟合模型得到拟合函数，根据所得拟合函数进行计算可以得到校准结果，能够减少物料差异对采集精度的影响，提高数据处理效率的同时还能减少内存占用。

根据本发明的一些实施例，所述拟合模型采用以下步骤得到：分别将所述多个模拟量输入值和所述多个模拟量输出值作为待训练拟合模型的输入，获取所述拟合模型输出的实际模拟量；根据所述实际模拟量和所述模拟量输出值计算得到损失值；根据所述损失值对所述待训练拟合模型中的参数进行更新，直至达到预设的收敛条件，将最后更新得到的待训练拟合模型作为所述拟合模型。

根据本发明的一些实施例，所述根据所述拟合函数计算得到校准结果，包括：获取预设输入值和对应的预设输出值；根据所述预设输入值和所述拟合函数进行计算，得到目标输出值；根据所述预设输出值和所述目标输出值计算得到误差值；根据所述误差值进行校准，得到校准结果。

根据本发明的一些实施例，所述根据所述误差值进行校准，得到校准结果，包括：获取多个所述误差值；根据多个所述误差值进行方差计算，得到多个所述目标输出值对应的方差值；根据所述方差值进行校准得到校准结果。

根据本发明的一些实施例，所述获取多个模拟量输入值和对应的多个模拟量输出值，包括：分别根据所述多个模拟量输入值进行编码转换，得到所述模拟量输入值对应的多个所述模拟量输出值。

根据本发明的一些实施例，在所述获取多个模拟量输入值之前，还包括：获取多个样本模拟量；依次根据所述多个样本模拟量进行查表得到所述多个模拟量输入值。

根据本发明的第二方面实施例的模拟量校准装置，包括：