[发明专利]一种OCT系统轴向分辨率测量方法

权利要求书

1.一种OCT系统轴向分辨率测量方法，其特征在于，包括如下步骤：

将弱相干光分成参考光和采样光，所述参考光经参考臂的反射镜反射回OCT系统，所述采样光经光纤透镜和采样物反射回OCT系统，反射回到系统的采样光和参考光在OCT系统中发生干涉形成干涉光信号；

将所述干涉光信号转换为电信号，并对所述电信号进行处理，得到FFT频谱；

将所述采样物远离所述光纤透镜移动位移Δz，所述FFT频谱峰值对应的序列号变化为ΔN；

所述Δz和所述ΔN的比值即为OCT系统的轴向分辨率。

2.根据权利要求1所述的OCT系统轴向分辨率测量方法，其特征在于，由弱相干光所分成的所述参考光和所述采样光的分光比范围为1:99–50:50。

3.根据权利要求1所述的OCT系统轴向分辨率测量方法，其特征在于，所述采样物为平面镜或表面平整、反射率高的玻璃。

4.根据权利要求3所述的OCT系统轴向分辨率测量方法，其特征在于，所述采样物的平面和所述光纤透镜的出射光垂直。

5.根据权利要求3所述的OCT系统轴向分辨率测量方法，其特征在于，所述采样物安装在微型电控平移台上，并由所述微型电控平移台带动所述采样物移动。

6.根据权利要求5所述的OCT系统轴向分辨率测量方法，其特征在于，所述微型电控平移台在每次测量中沿一个方向移动。

7.根据权利要求1所述的OCT系统轴向分辨率测量方法，其特征在于，对所述电信号进行处理包括对电信号采样、FFT变换。

8.根据权利要求7所述的OCT系统轴向分辨率测量方法，其特征在于，所述FFT变换包括扫描取样2N个点，得到N个FFT频谱峰值对应的1到N序列号，其中所述1到N序列号对应于所述采样物表面和所述光纤透镜之间的距离，所述1到N序列号对应的所述距离均匀增加，当所述参考臂和采样臂光程相等时，序列号1对应于所述采样物表面和所述光纤透镜之间的距离为0，序列号N对应于所述OCT系统可探测到的所述采样物表面和所述光纤透镜之间的最大距离。

9.根据权利要求8所述的OCT系统轴向分辨率测量方法，其特征在于，所述2N与所述OCT系统的扫描采样点数一致。

10.根据权利要求1所述的OCT系统轴向分辨率测量方法，其特征在于，所述OCT系统的扫频光源的波长为820nm～1500nm，带宽为50nm～260nm，扫描频率为5～100kHz。