[发明专利]图形匹配方法、装置、电子设备和存储介质

说明书

本发明实施例提供一种图形匹配方法、装置、电子设备和存储介质，其中方法包括：对待匹配的第一图形和第二图形分别进行轮廓提取，得到所述第一图形的第一轮廓以及所述第二图形的第二轮廓；基于所述第一轮廓中的各第一轮廓点与所述第二轮廓中各第二轮廓点之间的对应关系，确定对所述第一轮廓进行平面几何变换后比对得到的图形匹配结果；其中，所述对所述第一轮廓进行平面几何变换的目标是最小化各第一轮廓点及其对应的第二轮廓点间的距离。本发明实施例提供的图形匹配方法、装置、电子设备和存储介质，提高了图形匹配结果的精确性，同时更精确地反映出了第一轮廓与第二轮廓之间具体的差异之处。

技术领域

本发明涉及图像处理技术领域，尤其涉及一种图形匹配方法、装置、电子设备和存储介质。

背景技术

在图像处理领域，时常需要对两个图像中描绘的图形进行匹配，以量化两个图形的轮廓之间的相似程度或差异程度。

目前的图形匹配方法通常是对两个图形的轮廓矩进行对比，从而确定两个图形轮廓的相似度或差异度。然而，基于轮廓矩的图形匹配方法确定得到的量化结果为多种轮廓矩累加后计算得到，不具备确切的几何含义，更无法反映两个图形轮廓的差异之处，同时轮廓矩只能反映图形的部分特征，导致匹配结果的精确性欠佳。

发明内容

本发明实施例提供一种图形匹配方法、装置、电子设备和存储介质，用以解决现有技术中图形匹配结果精确性欠佳的缺陷。

本发明实施例提供一种图形匹配方法，包括：

对待匹配的第一图形和第二图形分别进行轮廓提取，得到所述第一图形的第一轮廓以及所述第二图形的第二轮廓；

基于所述第一轮廓中的各第一轮廓点与所述第二轮廓中各第二轮廓点之间的对应关系，确定对所述第一轮廓进行平面几何变换后比对得到的图形匹配结果；

其中，所述对所述第一轮廓进行平面几何变换的目标是最小化各第一轮廓点及其对应的第二轮廓点间的距离。

根据本发明一个实施例的图形匹配方法，所述基于所述第一轮廓中的各第一轮廓点与所述第二轮廓中各第二轮廓点之间的对应关系，确定对所述第一轮廓进行平面几何变换后比对得到的图形匹配结果，具体包括：

基于对所述第一轮廓进行平面几何变换后所能达到的各第一轮廓点及其对应的第二轮廓点间的最小距离，以及各第二轮廓点的坐标方差，确定所述图形匹配结果。

根据本发明一个实施例的图形匹配方法，所述对待匹配的第一图形和第二图形分别进行轮廓提取，得到所述第一图形的第一轮廓以及所述第二图形的第二轮廓，之后还包括：

基于所述第一轮廓中的各第一轮廓点与所述第二轮廓中各第二轮廓点之间的对应关系，以及变换系数函数，确定平面几何变换系数；

基于所述平面几何变换系数，对所述第一轮廓进行平面几何变换；

其中，所述变换系数函数是基于各第一轮廓点及其对应的第二轮廓点间的距离最小时需要满足的极值条件推导得到的。

根据本发明一个实施例的图形匹配方法，所述第一轮廓中的各第一轮廓点与所述第二轮廓中各第二轮廓点之间的对应关系，是基于如下步骤确定的：

基于所述第一轮廓上的预设数量个第一轮廓点，从所述第二轮廓上筛选多个候选点序列；

或，基于所述第一轮廓上的初始数量个第一轮廓点，从所述第二轮廓上筛选多个候选点序列，以预设倍数扩充所述第一轮廓上的第一轮廓点和每一候选点序列的第二轮廓点，直至每一候选点序列包含的第二轮廓点数量等于所述预设数量；

将与所述预设数量个第一轮廓点相似度最大的候选点序列中的第二轮廓点，作为对应于各第一轮廓点的第二轮廓点。