[发明专利]磁悬浮分子泵的开机自检方法、装置和电子设备有效
申请号: | 202010984088.0 | 申请日: | 2020-09-18 |
公开(公告)号: | CN111927796B | 公开(公告)日: | 2021-01-05 |
发明(设计)人: | 韩景超;洪申平;沙宏磊;俞天野;沈虹;衣存宇;李凯;刘万虎;李元河;董丽佳 | 申请(专利权)人: | 天津飞旋科技有限公司 |
主分类号: | F04D19/04 | 分类号: | F04D19/04;F04D27/00;F04D29/00;F04D29/058 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 安卫静 |
地址: | 300457 天津市滨*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 磁悬浮 分子 开机 自检 方法 装置 电子设备 | ||
1.一种磁悬浮分子泵的开机自检方法,其特征在于,包括:
检测磁悬浮分子泵的驱动电路中所有上下桥臂开关管是否损坏;
若未损坏,则基于泵体安装角度、泵体使用时长和磁悬浮分子泵控制器的闲置时长确定是否需要重新计算所述磁悬浮分子泵的悬浮参数;
若不需要,则启动所述磁悬浮分子泵,并检测转子是否悬浮在预设中心位置;
若所述转子未悬浮在所述预设中心位置,则自检结束,并重新计算悬浮参数。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
若所述转子悬浮在所述预设中心位置,则读取目标故障记录,其中,所述目标故障记录为由于转子掉落或转子悬浮轨迹过大导致的故障记录;所述转子悬浮轨迹过大表示转子悬浮不在预设中心位置;
基于所述目标故障记录判断是否需要更换保护轴承;
若需要,则自检结束,并更换所述保护轴承。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
若不需要更换所述保护轴承,则检测所述磁悬浮分子泵的电机线圈转动是否异常;
若所述电机线圈转动异常,则自检结束,并更换所述电机线圈;
若所述电机线圈转动正常,则自检结束,并控制所述磁悬浮分子泵进入正常运行状态。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在检测磁悬浮分子泵的驱动电路中所有上下桥臂开关管是否损坏的步骤之前,所述方法还包括:
检测所述磁悬浮分子泵的所有供电电压是否正常;
若所有供电电压正常,则检测所述磁悬浮分子泵内部预设位置的温度值是否正常;
若所述磁悬浮分子泵内部预设位置的温度值正常,则检测所述磁悬浮分子泵控制器内的温度值是否正常;
若所述磁悬浮分子泵控制器内的温度值正常,则检测磁悬浮分子泵控制器内湿度值,并结合所述磁悬浮分子泵控制器内的温度值判断所述磁悬浮分子泵控制器内部是否存在结露现象;
若不存在,则执行检测磁悬浮分子泵的驱动电路中所有上下桥臂开关管是否损坏的步骤。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
若所述磁悬浮分子泵内部预设位置的温度值异常,则自检结束,并确定泵内冷却水供应异常。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,基于泵体安装角度、泵体使用时长和磁悬浮分子泵控制器的闲置时长确定是否需要重新计算所述磁悬浮分子泵的悬浮参数,包括:
判断所述泵体安装角度是否为预设角度;
若是,则判断所述泵体使用时长是否超过第一预设时长;
若所述泵体使用时长未超过所述第一预设时长,则判断所述磁悬浮分子泵控制器的闲置时长是否超过第二预设时长;
若所述磁悬浮分子泵控制器的闲置时长未超过所述第二预设时长,则不需要重新计算所述磁悬浮分子泵的悬浮参数。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
若所述泵体安装角度不是预设角度,则重新计算所述磁悬浮分子泵的悬浮参数;或者
若所述泵体使用时长超过所述第一预设时长,则重新计算所述磁悬浮分子泵的悬浮参数;或者
若所述磁悬浮分子泵控制器的闲置时长超过所述第二预设时长,则重新计算所述磁悬浮分子泵的悬浮参数。
8.一种磁悬浮分子泵的开机自检装置,其特征在于,包括:
第一检测模块,用于检测磁悬浮分子泵的驱动电路中所有上下桥臂开关管是否损坏;
第一确定模块,若驱动电路中所有上下桥臂开关管未损坏,则基于泵体安装角度、泵体使用时长和磁悬浮分子泵控制器的闲置时长确定是否需要重新计算所述磁悬浮分子泵的悬浮参数;
第二检测模块,若不需要重新计算所述磁悬浮分子泵的悬浮参数,启动所述磁悬浮分子泵,检测转子是否悬浮在预设中心位置;
第二确定模块,若所述转子未悬浮在所述预设中心位置,自检结束,重新计算悬浮参数。
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