[发明专利]一种测距装置和方法

权利要求书

1.一种测距装置，其特征在于，包括光源、偏振控制器、第一电光调制器、第二电光调制器、光环形器、耦合器、1/4波片、反射器、检偏器、光电探测器、低通滤波器、信号源、第一自动增益放大器、第二自动增益放大器和测量控制单元；其中，

光源，用于输出直流线偏振光至偏振控制器；

偏振控制器，用于控制直流线偏振光的偏振态，输出偏振光至第一电光调制器；

第一电光调制器，用于根据放大后的第一路高频正弦波信号对偏振光进行调制，输出调制光至光环形器；

光环形器，用于将调制光由其第一端口输入，并由其第二端口注入至耦合器；

耦合器，用于将调制光耦合至自由空间并入射至1/4波片；

1/4波片，用于对通过的调制光形成偏振态的偏转，偏转后的调制光输出至反射器；

反射器，用于对偏转后的调制光进行反射，反射后的光经1/4波片后偏振态旋转90度后再经耦合器、光环行器后输出反射光至第二电光调制器；

第二电光调制器，用于根据放大后的第二路高频正弦波信号对反射光进行解调，解调光经检偏器最终到达光电探测器；

光电探测器，用于将经检偏器后的光信号转换为电信号，电信号经低通滤波器输出至测量控制单元；

测量控制单元，用于控制信号源输出频率连续变化的高频正弦信号，同时采集和处理光电探测器输出的电信号，解算出耦合器到反射器的距离L；

信号源，用于输出频率连续变化的高频正弦信号，该信号分成两路，第一路高频正弦信号经第一自动增益放大器放大后驱动第一电光调制器，第二路高频正弦信号经第二自动增益放大器放大后驱动第二电光调制器。

2.根据权利要求1所述的一种测距装置，其特征在于，所述光源为超辐射发光二极管光源，或ASE光源。

3.根据权利要求1所述的一种测距装置，其特征在于，所述第一电光调制器的输入端口至输出端口的传输特性和第二电光调制器的输入端口至输出端口的传输特性相同。

4.根据权利要求1所述的一种测距装置，其特征在于，第一自动增益放大器和第二自动增益放大器相同。

5.根据权利要求1所述的一种测距装置，其特征在于，所述信号源至第一电光调制器的电缆长度和信号源至第二电光调制器的电缆长度相同。

6.根据权利要求1所述的一种测距装置，其特征在于，所述第一电光调制器和所述第二电光调制器加载的信号幅值、信号频率和相位相同。

7.根据权利要求1所述的一种测距装置，其特征在于，反射器为后向反射器，包括角反射器或猫眼反射器。