[发明专利]晶圆位置校正装置及半导体工艺设备在审

专利信息
申请号: 202010989232.X 申请日: 2020-09-18
公开(公告)号: CN112133661A 公开(公告)日: 2020-12-25
发明(设计)人: 王福来 申请(专利权)人: 北京北方华创微电子装备有限公司
主分类号: H01L21/68 分类号: H01L21/68;H01L21/67
代理公司: 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 代理人: 施敬勃
地址: 100176 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 位置 校正 装置 半导体 工艺设备
【权利要求书】:

1.一种晶圆位置校正装置,适用于对承载架(100)上的晶圆(200)进行位置校正,其特征在于,所述晶圆位置校正装置包括:

第一校正元件(300),所述第一校正元件(300)邻近所述晶圆(200)的第一侧设置;

第二校正元件(400),所述第二校正元件(400)邻近所述晶圆(200)的第二侧设置;其中,所述第一侧和所述第二侧为所述晶圆(200)的相对两侧;

传动机构,所述传动机构分别与所述第一校正元件(300)和所述第二校正元件(400)相连;

驱动机构,所述驱动机构与所述传动机构驱动相连,所述传动机构带动所述第一校正元件(300)和所述第二校正元件(400)彼此靠近,同时从所述第一侧和所述第二侧对所述晶圆(200)进行校正,在校正完成后,所述传动机构带动所述第一校正元件(300)和所述第二校正元件(400)彼此远离。

2.根据权利要求1所述的晶圆位置校正装置,其特征在于,所述第一校正元件(300)和所述第二校正元件(400)沿所述承载架(100)的第一中轴线对称布设,所述第一中轴线为所述承载架(100)与所述晶圆(200)的表面相垂直的中轴线,所述驱动机构驱动所述传动机构带动所述第一校正元件(300)在第一路径上移动,所述驱动机构驱动所述传动机构带动所述第二校正元件(400)在第二路径上移动,所述第一路径和第二路径沿所述第一中轴线对称。

3.根据权利要求2所述的晶圆位置校正装置,其特征在于,所述传动机构包括传动元件(510)、第一连接臂(520)、第二连接臂(530)和导向组件;所述第一连接臂(520)的第一端与所述第一校正元件(300)相连,且第二端与所述传动元件(510)相铰接,所述第二连接臂(530)的第一端与所述第二校正元件(400)相连,且第二端与所述传动元件(510)相铰接,所述驱动机构驱动所述传动元件(510)移动;

所述第一连接臂(520)和所述第二连接臂(530)对称设置于传动元件(510)两侧,所述导向组件与所述第一连接臂(520)和所述第二连接臂(530)相配合,或者与所述第一校正元件(300)和所述第二校正元件(400)相配合,以引导所述第一校正元件(300)和所述第二校正元件(400)彼此靠近或彼此远离。

4.根据权利要求3所述的晶圆位置校正装置,其特征在于,所述导向组件包括第一导向元件(540)和第二导向元件(550),所述第一导向元件(540)和第二导向元件(550)均可转动地设置于安装基础(600),且所述第一导向元件(540)和所述第二导向元件(550)的转动轴线均通过所述晶圆(200)的表面,所述第一导向元件(540)和所述第二导向元件(550)沿所述传动元件(510)对称布设;所述第一导向元件(540)设置有第一滑槽(541),所述第一连接臂(520)在所述第一滑槽(541)内滑动配合,所述第二导向元件(550)设置有第二滑槽(551),所述第二连接臂(530)在所述第二滑槽(551)内滑动配合。

5.根据权利要求4所述的晶圆位置校正装置,其特征在于,所述第一导向元件(540)开设有第一安装孔(542),所述第二导向元件(550)开设有第二安装孔(552),所述安装基础(600)上设置有第一支撑件(610)和第二支撑件(620),所述第一支撑件(610)设置有与所述第一安装孔(542)相匹配的第一转轴(611),所述第二支撑件(620)设置有与所述第二安装孔(552)相匹配的第二转轴(621),所述第一导向元件(540)通过所述第一安装孔(542)与所述第一转轴(611)的配合而与所述第一支撑件(610)转动配合,所述第二导向元件(550)通过所述第二安装孔(552)与所述第二转轴(621)的配合而与所述第二支撑件(620)转动配合。

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