[发明专利]晶圆位置校正装置及半导体工艺设备在审
申请号: | 202010989232.X | 申请日: | 2020-09-18 |
公开(公告)号: | CN112133661A | 公开(公告)日: | 2020-12-25 |
发明(设计)人: | 王福来 | 申请(专利权)人: | 北京北方华创微电子装备有限公司 |
主分类号: | H01L21/68 | 分类号: | H01L21/68;H01L21/67 |
代理公司: | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人: | 施敬勃 |
地址: | 100176 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 位置 校正 装置 半导体 工艺设备 | ||
1.一种晶圆位置校正装置,适用于对承载架(100)上的晶圆(200)进行位置校正,其特征在于,所述晶圆位置校正装置包括:
第一校正元件(300),所述第一校正元件(300)邻近所述晶圆(200)的第一侧设置;
第二校正元件(400),所述第二校正元件(400)邻近所述晶圆(200)的第二侧设置;其中,所述第一侧和所述第二侧为所述晶圆(200)的相对两侧;
传动机构,所述传动机构分别与所述第一校正元件(300)和所述第二校正元件(400)相连;
驱动机构,所述驱动机构与所述传动机构驱动相连,所述传动机构带动所述第一校正元件(300)和所述第二校正元件(400)彼此靠近,同时从所述第一侧和所述第二侧对所述晶圆(200)进行校正,在校正完成后,所述传动机构带动所述第一校正元件(300)和所述第二校正元件(400)彼此远离。
2.根据权利要求1所述的晶圆位置校正装置,其特征在于,所述第一校正元件(300)和所述第二校正元件(400)沿所述承载架(100)的第一中轴线对称布设,所述第一中轴线为所述承载架(100)与所述晶圆(200)的表面相垂直的中轴线,所述驱动机构驱动所述传动机构带动所述第一校正元件(300)在第一路径上移动,所述驱动机构驱动所述传动机构带动所述第二校正元件(400)在第二路径上移动,所述第一路径和第二路径沿所述第一中轴线对称。
3.根据权利要求2所述的晶圆位置校正装置,其特征在于,所述传动机构包括传动元件(510)、第一连接臂(520)、第二连接臂(530)和导向组件;所述第一连接臂(520)的第一端与所述第一校正元件(300)相连,且第二端与所述传动元件(510)相铰接,所述第二连接臂(530)的第一端与所述第二校正元件(400)相连,且第二端与所述传动元件(510)相铰接,所述驱动机构驱动所述传动元件(510)移动;
所述第一连接臂(520)和所述第二连接臂(530)对称设置于传动元件(510)两侧,所述导向组件与所述第一连接臂(520)和所述第二连接臂(530)相配合,或者与所述第一校正元件(300)和所述第二校正元件(400)相配合,以引导所述第一校正元件(300)和所述第二校正元件(400)彼此靠近或彼此远离。
4.根据权利要求3所述的晶圆位置校正装置,其特征在于,所述导向组件包括第一导向元件(540)和第二导向元件(550),所述第一导向元件(540)和第二导向元件(550)均可转动地设置于安装基础(600),且所述第一导向元件(540)和所述第二导向元件(550)的转动轴线均通过所述晶圆(200)的表面,所述第一导向元件(540)和所述第二导向元件(550)沿所述传动元件(510)对称布设;所述第一导向元件(540)设置有第一滑槽(541),所述第一连接臂(520)在所述第一滑槽(541)内滑动配合,所述第二导向元件(550)设置有第二滑槽(551),所述第二连接臂(530)在所述第二滑槽(551)内滑动配合。
5.根据权利要求4所述的晶圆位置校正装置,其特征在于,所述第一导向元件(540)开设有第一安装孔(542),所述第二导向元件(550)开设有第二安装孔(552),所述安装基础(600)上设置有第一支撑件(610)和第二支撑件(620),所述第一支撑件(610)设置有与所述第一安装孔(542)相匹配的第一转轴(611),所述第二支撑件(620)设置有与所述第二安装孔(552)相匹配的第二转轴(621),所述第一导向元件(540)通过所述第一安装孔(542)与所述第一转轴(611)的配合而与所述第一支撑件(610)转动配合,所述第二导向元件(550)通过所述第二安装孔(552)与所述第二转轴(621)的配合而与所述第二支撑件(620)转动配合。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京北方华创微电子装备有限公司,未经北京北方华创微电子装备有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010989232.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造