[发明专利]基于Python的芯片自动化验证测试系统及方法在审

专利信息
申请号: 202010992183.5 申请日: 2020-09-21
公开(公告)号: CN112131109A 公开(公告)日: 2020-12-25
发明(设计)人: 张瀚文;林秋;戴昭君;陈宣成 申请(专利权)人: 上海华虹集成电路有限责任公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36;G06F11/273;G01R31/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201203 上海市浦东新*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 基于 python 芯片 自动化 验证 测试 系统 方法
【权利要求书】:

1.基于Python的芯片自动化验证测试方法,其特征在于PC端上位机集成多接口透传协议,芯片JTAG调试,程控测试仪器自动化控制框架以及脚本自动化运行功能,对待测板上的芯片进行单线程或多线程的透传指令下发,并配合使用程控测试对数据进行自动化采集与分析,以便对芯片IP功能,电特性以及性能指标进行全覆盖验证。

2.根据权利要求1所述的芯片自动化验证测试方法,其特征在于,所述多接口透传协议,兼容芯片通用的三种接口UART/SPI/I2C,开放出可根据需求修改的通讯指令帧格式,以兼容不同芯片通信协议;测试指令直接被从PC端上位机传入到芯片应用层,验证其各模块功能。

3.根据权利要求1所述的芯片自动化验证测试方法,其特征在于,所述芯片JTAG调试,使用Python开发的基于JTAG调试基础的寄存器读写功能,可通过芯片的JTAG接口,可使PC端上位机绕过芯片的通讯协议,通过JTAG接口调试设备直接对芯片的寄存器进行操作调试。

4.根据权利要求1所述的芯片自动化验证测试方法,其特征在于,所述程控测试仪器自动化控制框架,其通过IEEE 488.2程控协议直接操作设备,在芯片功能测试流程中,使用电源与测量析仪实现实时的电源域修改,数据测量与数据采集功能;理论上兼容市面上NI标准的所有可编程测试仪器,可根据需求进行设备库的扩容。

5.根据权利要求1所述的芯片自动化验证测试方法,其特征在于,所述脚本自动化运行功能,针对芯片那些闭环多层级且遍历项繁多的功能测试,可根据预先配置的层级数与每层的遍历条件,自动遍历运行测试脚本,过程中的每次异常都会自动进行记录并生成测试报告供分析使用。

6.根据权利要求1所述的芯片自动化验证测试方法,其特征在于,所述对待测板测试板上的芯片进行单线程或多线程的透传指令下发,PC端上位机在手动选定通讯接口后,将根据芯片物理地址中的设备ID编码进行自动存储与识别;支持设备的通讯方式如下:一、单设备单接口通讯;二、多设备单接口通讯;三、多设备多接口通讯;支持的指令下发方式如下:一、流水式下发;二、多线程并发。

7.根据权利要求1所述的芯片自动化验证测试方法,其特征在于,所述对数据进行自动化采集,程控测试仪器功能开启后,对待测板外部管脚上的信息进行实时测量并将所测得数据回传给PC端上位机,接收到数据后将进行包含图像绘制与数据报告的自动生成。

8.基于Python的芯片自动化验证测试系统,用于实现权利要求1至7所述的芯片自动化验证测试方法,其特征在于,所述的芯片自动化验证测试系统总共包含四个主体部分:一,PC端,主要用于总体流程控制与功能集成,通过串口和程控接口下发测试与程控指令给下位机待测芯片与程控测试仪器,同时接收测试结果与反馈信息;二,待测件及待测芯片,为测端主体,通过UART,SPI,I2C三种连接方式接收指令或回传反馈结果给PC端;三,程控测试仪器,主要通过程控接口接收来自PC端的控制指令,用于待测芯片的测试数据采集与激励条件输入;四,JTAG调试通道,通过JTAG接口让PC端对待测芯片直接进行寄存器级的操作,从底层对芯片进行基本功能测试,并通过JTAG接口将调试结果回传给PC端。

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