[发明专利]一种绝对辐射与偏振联合的定标方法及装置有效
申请号: | 202010993142.8 | 申请日: | 2020-09-21 |
公开(公告)号: | CN112284541B | 公开(公告)日: | 2023-06-30 |
发明(设计)人: | 颜昌翔;邢文赫;鞠学平;泊建 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G01J3/447 | 分类号: | G01J3/447;G01J3/28;G01J4/00 |
代理公司: | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人: | 代丽;郭德忠 |
地址: | 130033 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 绝对 辐射 偏振 联合 定标 方法 装置 | ||
1.一种绝对辐射以及偏振联合的定标方法,其特征在于,对通道色散型偏振光谱成像仪(2)进行定标,包括如下步骤:
步骤1,获取待定标仪器的探测器暗电流;
将绝对辐射光源直接入射到待定标仪器,充满待定标仪器口径;
调节绝对辐射光源亮度,获取不同辐射亮度入射下待定标仪器不同视场的灰度值;
步骤2,根据待定标仪器的探测器暗电流、不同辐射亮度入射待定标仪器不同视场的灰度值,确定每个像元的调制绝对辐射定标系数;所述调制绝对辐射定标系数为真实绝对辐射定标系数与前置镜组偏振效应调制的结果;
步骤3,将不同方向的线偏振光入射到待定标仪器,分别获取待定标仪器不同视场的灰度值;
步骤4,根据所述调制绝对辐射定标系数和其中一个方向线偏振光入射待定标仪器的中心视场灰度值,得到该方向线偏振光入射待定标仪器的中心视场光谱辐亮度值;根据所述中心视场光谱辐亮度值,确定出两个相位延迟器的方位角误差和第二个相位延迟器的相位因子;
步骤5,根据所述调制绝对辐射定标系数、所述两个相位延迟器的方位角误差和第二个相位延迟器的相位因子,确定出待定标仪器不同视场下的真实绝对辐射定标系数和前置镜组的二向衰减;
步骤6,根据所述真实绝对辐射定标系数、步骤3获得的不同方向的线偏振光入射待定标仪器的不同视场灰度值,得到不同方向的线偏振光入射待定标仪器的不同视场光谱辐亮度值;
根据非步骤4所用方向线偏振光的入射待定标仪器的不同视场光谱辐亮度值,确定出不同视场下第一个相位延迟器的相位因子;根据步骤4所用方向线偏振光入射待定标仪器的不同视场光谱辐亮度值,确定出不同视场下前置镜组的位相延迟。
2.如权利要求1所述的绝对辐射以及偏振联合的定标方法,其特征在于,所述步骤4中的方向线偏振光为0°线偏振光,所述步骤6中的,非步骤4所用方向线偏振光为45°线偏振光。
3.如权利要求1或2所述的绝对辐射以及偏振联合的定标方法,其特征在于,所述步骤1中,不同辐射亮度入射下不同视场的灰度值DNj(σ,θ),其表达式为:
其中,上标j表征积分球(1)不同辐射亮度等级,θ表征不同视场,σ为波数,A(σ,θ)为探测器像元响应,Mspec、Mimag、MP、和Mfore分别表示色散型光谱成像仪(16)、成像镜组(14)、偏振片(13)、相位延迟器(12)、相位延迟器(11)和前置镜组(10)的穆勒矩阵,ε2和ε1分别为相位延迟器(12)和相位延迟器(11)的方位角误差,和分别为相位延迟器(12)和相位延迟器(11)所引入的相位延迟量,为光谱辐射亮度计(4)所获取的积分球(1)出射不同辐射亮度所对应的光谱辐亮度值,C(σ,θ)为用黑色绒布遮挡待定标仪器全部口径后色散型光谱成像仪(16)所获取的探测器暗电流,Ak′(σ,θ)为调制绝对辐射定标系数,Ak(σ,θ)为真实绝对辐射定标系数,Dfore(σ,θ)为前置镜组(10)的二向衰减,a1=sin2ε1,a2=cos2ε1,b1=sin2ε2,b2=cos2ε2,c1=sin2(ε2-ε1),c2=cos2(ε2-ε1)。
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