[发明专利]一种光模块高低温测试装置和方法

说明书

一种光模块高低温测试装置，包括：TEC驱动器、测试盒和冷却箱；其中：TEC驱动器和测试盒连接，用于驱动测试盒内的TEC制冷器，实现按预设需求对测试盒进行加热和制冷功能；测试盒一端与TEC驱动器连接，另一端与冷却箱连接，用于接受TEC驱动器控制，产生光模块测试所需温度；还用于接受冷却箱进行散热处理；冷却箱通过出入水连接口与测试盒连接，用于对测试盒进行散热处理。本发明达到的温度范围大，电功耗低，不消耗压缩空气，无噪音，不会对生产环境释放大量热量。本发明中的测试盒体积小，可以随意移动，不单独占用生产场地。解决了现有设备存在体积庞大，电功耗大，耗气量大，噪音和散热都对生产环境产生直接影响的问题。

技术领域

本发明涉及的是光通信技术领域,特别涉及一种光模块高低温测试装置和方法。

背景技术

随着光通信技术的发展，光通信产品的集成化程度越来越高，结构越来越精细，工序越来越多，制造工艺越来越复杂，这样在制造过程中会存在一些潜在质量缺陷和风险。在生产制造时,因设计不合理、原材料或工艺措施方面的原因引起产品的质量问题大致分两类：

第一类是产品的性能参数不达标，生产的产品不符合使用要求；第二类是潜在的缺陷，这类缺陷不能用一般的测试手段发现，而需要在使用过程中逐渐地被暴露，如芯片表面污染、组织不稳定、焊接空洞、芯片和管壳热阻匹配不良等等。

对于第二类这种潜在的缺陷，需要在元器件工作于额定功率和正常工作温度下运行数千个小时甚至更长时间才能全部被激活。显然，对每只元器件测试数千个小时是不现实的，所以需要对其施加热应力和偏压，例如进行高温功率应力试验，来加速这类缺陷的提早暴露。也就是给电子产品施加热的、电的、机械的或多种综合的外部应力，模拟严酷工作环境，消除加工应力和残余溶剂等物质，使潜伏故障提前出现，尽快使产品通过失效浴盆特性初期阶段，进入高可靠的稳定期。通过高低温老化可以使光通信产品的缺陷和隐患提前暴露，从面保证出厂的产品能经得起时间的考验。

目前市面上常见的高低温测试设备都是充气测试，让压缩空气流经加热或者制冷的通道，让加热或者制冷后的气体充满测试空间，提供高低温测试环境。然而，此类设备存在体积庞大，电功耗大，耗气量大，噪音和散热都对生产环境产生直接影响。

发明内容

鉴于上述问题，提出了本发明以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种光模块高低温测试装置和方法。

一种光模块高低温测试装置，包括：TEC驱动器、测试盒和冷却箱；其中：

TEC驱动器和测试盒连接，用于驱动测试盒内的TEC制冷器，实现按预设

需求对测试盒进行加热和制冷功能；

测试盒一端与TEC驱动器连接，另一端与冷却箱连接，用于接受TEC驱动器控制，产生光模块测试所需温度；还用于接受冷却箱进行的散热处理；

冷却箱通过出入水连接口与测试盒连接，用于对测试盒进行散热处理。

进一步地，测试盒包括测试板，测试板上设置有光模块对应型号的连接器座，用于固定光模块，使光模块在预设温度下进行测试工作。

进一步地，测试盒还包括TEC制冷器，TEC制冷器通过航空接头与TEC驱动器连接，用于根据TEC驱动器温度控制指令产生光模块测试设定温度。

进一步地，测试盒还包括TEC散热器，TEC散热器内设计有液体流通道， TEC散热器设置有冷却液体入口和冷却液体出口，TEC散热器通过出入水管与冷却箱连接，通过冷却箱内的冷却液对测试盒进行散热处理。

进一步地，测试盒还包括导热板，导热板上设计有与光模块适配的凹槽，并与TEC制冷器之间填充导热材料，用于将TEC制冷器产生的测试温度传输给光模块。