[发明专利]具有可控迁移路径的阻变存储器及其制作方法在审
申请号: | 202010995203.4 | 申请日: | 2020-09-21 |
公开(公告)号: | CN112289928A | 公开(公告)日: | 2021-01-29 |
发明(设计)人: | 唐建石;牟星;吴华强;高滨;钱鹤 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | H01L45/00 | 分类号: | H01L45/00 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 付文虹 |
地址: | 10008*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 可控 迁移 路径 存储器 及其 制作方法 | ||
1.一种具有可控迁移路径的阻变存储器,其特征在于,包括:上电极、阻变层、下电极和衬底;
其中,所述上电极、所述阻变层、所述下电极和所述衬底依次叠放;
所述阻变层具有晶体结构,所述衬底具有特定晶向。
2.根据权利要求1所述的具有可控迁移路径的阻变存储器,其特征在于,所述阻变层的晶体结构由氧四面体结构和氧八面体结构堆垛形成,并在所述氧四面体结构中形成规则排列的迁移路径。
3.根据权利要求1或2所述的具有可控迁移路径的阻变存储器,所述阻变层为钙铁石材料。
4.根据权利要求3所述的具有可控迁移路径的阻变存储器,其特征在于,所述阻变层可在钙铁石结构和钙钛矿结构之间转换。
5.根据权利要求1所述的具有可控迁移路径的阻变存储器,其特征在于,所述衬底被转换为导体时可用作于所述下电极。
6.一种具有可控迁移路径的阻变存储器的制作方法,其特征在于,包括:
利用脉冲激光沉积在晶向衬底上生长下电极和阻变层,其中,所述阻变层具有晶体结构;
在所述阻变层上方生长上电极。
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