[发明专利]一种有缺陷的液晶显示模组获取方法在审

专利信息
申请号: 202010996821.0 申请日: 2020-09-21
公开(公告)号: CN112213873A 公开(公告)日: 2021-01-12
发明(设计)人: 李继龙;骆志锋;王斯福;向佐检 申请(专利权)人: 深圳同兴达科技股份有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 代理人: 彭涛
地址: 518000 广东省深圳市龙华区观澜街道新澜*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 缺陷 液晶显示 模组 获取 方法
【权利要求书】:

1.一种有缺陷的液晶显示模组获取方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1:根据液晶模组的缺陷画面的背景颜色,将画图板的画布颜色设置为与液晶模组的画面缺陷的背景颜色一致的颜色;

S2:根据液晶模组的缺陷画面的形状,选择形状工具,在所述画布上绘制出缺陷参考外形;使用铅笔工具找出缺陷参考中心,并标注所述缺陷参考中心;

S3:在所述缺陷参考中心,将画布无限放大,在所述缺陷画面内设置若干切分线,所述的切分线经过缺陷参考中心并将所述缺陷参考外形内部区域分为若干份;

S4:将缺陷参考中心的像素点作为像素点1,并设置所述像素点1的灰度值,根据步骤S3中的切分线,沿所述切分线设置所述像素点1左上方或左下方或右上方或右下方上的至少一个像素点的灰度值,并以像素点1和像素点1左上方或左下方或右上方或右下方上的至少一个像素点为第一像素族,并沿所述切分线设置若干个第一像素族;

S5:在第一像素族的基础上,将第一像素族中像素点对应的最大灰度值降低若干级,其它像素点对应的灰度值不变,形成第二像素族,并在步骤S4的基础上沿所述切分线设置若干个第二像素族;

S6:在第二像素族的基础上,将第二像素族中像素点对应的最小灰度值降低若干级,其它像素点对应的灰度值不变,形成第三像素族,并步骤S5的基础上沿所述切分线设置若干个第三像素族;

S7:重复步骤S5~S6,形成第N像素族;所述第N像素族中所有像素点的灰度值均与画布的灰度值一致;

所述第一像素族、第二像素族、第三像素族、…、第N像素族根据缺陷参考外形内部区域面积大小确定,且所述第一像素族、第二像素族、第三像素族、…、第N像素族中像素点的个数相同;

S8:重复步骤S4~S7,分别设置缺陷参考外形内部区域中像素点1左上方、左下方、右上方、右下方区域内的像素点的灰度值,形成缺陷图片;

S9:在正常显示屏上显示所述缺陷图片,并将所述缺陷图片与所述液晶模组的缺陷画面进行对比,判断所述缺陷图片是否符合要求,若符合要求则将所述缺陷图片作为限度样品。

2.根据权利要求1所述的一种有缺陷的液晶显示模组获取方法,其特征在于,所述步骤S1具体包括以下步骤:

S10:打开计算机的画图板,在属性对话框中,将单位设置为像素,并根据所述液晶显示模组的分辨率大小,设置画布的宽度值、高度值;

S11:根据液晶模组的缺陷画面的背景颜色,在编辑颜色对话框中设置红、绿、蓝三基色的值,使得所设置的画图板的背景颜色与液晶模组的缺陷画面的背景颜色一致;

S12:使用画图板中的颜色填充工具将画布颜色设置为与步骤S11中画图板的背景颜色一致的颜色。

3.根据权利要求1所述的一种有缺陷的液晶显示模组获取方法,其特征在于,所述步骤S2为:根据液晶模组的画面缺陷的形状,选择形状工具,在所述画布上绘制出缺陷参考外形,使用铅笔工具找出缺陷参考中心,并采用与所述步骤S1中画布颜色不同的颜色标注所述缺陷参考中心。

4.根据权利要求1所述的一种有缺陷的液晶显示模组获取方法,其特征在于,所述第一像素族、第二像素族、第三像素族、第N像素族中像素点的个数均为三个。

5.根据权利要求1所述的一种有缺陷的液晶显示模组获取方法,其特征在于,所述步骤S3为:在所述缺陷参考中心,将画布无限放大,在所述缺陷画面内设置两条倾斜的切分线,两条所述的倾斜的切分线经过缺陷参考中心并将所述缺陷画面平分为四份。

6.根据权利要求1所述的一种有缺陷的液晶显示模组获取方法,其特征在于,所述步骤S9进一步包括以下步骤:

S90:在正常显示屏上显示所述缺陷图片,并将所述缺陷图片与所述液晶模组的缺陷画面进行对比,判断所述缺陷图片是否符合要求;

S91:若所述缺陷图片不符合要求,则调整像素点1的灰度值和第一像素族、第二像素族、第三像素族、第N像素族的族数,并重复步骤S4~S8,直到所述缺陷图片符合要求;

S92:若符合要求则将所述缺陷图片作为限度样品。

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