[发明专利]电路装置、物理量测量装置、电子设备和移动体

说明书

提供电路装置、物理量测量装置、电子设备和移动体，在时间数字转换电路中能够以短时间进行时间计测。电路装置包含时钟生成电路、信号生成电路、相位比较电路和处理电路。信号生成电路生成在第1时钟信号的转变定时转变的第1信号、在第2时钟信号的转变定时转变的精细判定用信号、以及在精细判定用信号之前和之后的第2时钟信号的转变定时转变的第1和第2粗略判定用信号。相位比较电路对基于第1信号发生转变的第2信号和精细判定用信号、第1粗略判定用信号以及第2粗略判定用信号中的每一个进行相位比较。处理电路基于相位比较结果来设定第1信号的转变定时和精细判定用信号的转变定时，并基于设定结果将第1和第2信号的时间差转换为数字值。

技术领域

本发明涉及电路装置、物理量测量装置、电子设备和移动体等。

背景技术

以往，已知有将开始信号和停止信号的转变定时的时间差转换为数字值的时间数字转换电路。在专利文献1中公开了这种时间数字转换电路的现有技术。专利文献1的时间数字转换电路在从第1时钟信号和第2时钟信号的同步定时起经过了规定时钟周期后的第1时钟信号的转变定时，自发产生开始信号。然后，时间数字转换电路比较停止信号和第2时钟信号的相位，并更新时钟周期直到其相位一致的定时，由此计测开始信号和停止信号之间的时间差。

专利文献1：日本特开2018-56677号公报

上述时间数字转换电路将从第1时钟信号和第2时钟信号的同步定时到下一个同步定时作为一个测量期间，在该测量期间中停止信号和第2时钟信号的相位不一致的情况下，更新开始信号的时钟周期，并转移到下一个测量期间。因此，如果要提高时间计测的分辨率，或者要扩大时间计测的动态范围，则测量期间的反复次数增大，所以存在不能以短时间进行时间计测的问题。

发明内容

本公开的一个方式涉及电路装置，其包含：时钟生成电路，其生成第1时钟信号和频率与所述第1时钟信号不同的第2时钟信号；信号生成电路，其生成在所述第1时钟信号的转变定时处发生转变的第1信号、在所述第2时钟信号的转变定时处发生转变的精细判定用信号、在所述精细判定用信号之前的所述第2时钟信号的转变定时处发生转变的第1粗略判定用信号、和在所述精细判定用信号之后的所述第2时钟信号的转变定时处发生转变的第2粗略判定用信号；相位比较电路，其通过对基于所述第1信号发生转变的第2信号和所述精细判定用信号进行相位比较来输出第1相位比较信号，通过对所述第2信号和所述第1粗略判定用信号进行相位比较来输出第2相位比较信号，并通过对所述第2信号和所述第2粗略判定用信号进行相位比较来输出第3相位比较信号；以及处理电路，其基于所述第1相位比较信号、所述第2相位比较信号和所述第3相位比较信号来设定所述第1信号的转变定时和所述精细判定用信号的转变定时，并基于设定结果将所述第1信号和所述第2信号的时间差转换为数字值。

附图说明

图1是未使用本实施方式的时间计测方法的情况下的信号波形例。

图2是电路装置的第1结构例。

图3是说明电路装置的动作的第1波形例。

图4是说明电路装置的动作的第2波形例。

图5是说明数字值的计算式的图。

图6是信号生成电路、相位比较电路和处理电路的第1详细结构例。

图7是时钟生成电路的第1详细结构例。

图8是时钟生成电路的第2详细结构例。

图9是电路装置的第2结构例和处理电路的第2详细结构例。

图10是第1运算电路的详细结构例。

图11是Cfine被每次更新-1时的波形例。

图12是利用抖动值更新Cfine时的波形例。

图13是利用抖动值更新Cfine时的波形例。