[发明专利]接触窗结构及其形成方法在审
申请号: | 202011000651.2 | 申请日: | 2020-09-22 |
公开(公告)号: | CN114256134A | 公开(公告)日: | 2022-03-29 |
发明(设计)人: | 吴秉桓 | 申请(专利权)人: | 长鑫存储技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L23/48 |
代理公司: | 上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294 | 代理人: | 孙佳胤;高德志 |
地址: | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 接触 结构 及其 形成 方法 | ||
1.一种接触窗结构的形成方法,其特征在于,包括:
提供基底,所述基底中形成有目标层,所述基底露出所述目标层的表面;
在所述目标层表面上形成刻蚀垫片;
形成覆盖所述基底、目标层和刻蚀垫片的介质层;
刻蚀所述介质层,在所述介质层中形成刻蚀孔,所述刻蚀孔底部暴露出所述刻蚀垫片的顶部表面;
沿刻蚀孔去除所述刻蚀垫片,形成与刻蚀孔连通的刻蚀通道,所述刻蚀通道暴露出目标层的部分表面,所述刻蚀通道与刻蚀孔构成接触窗结构。
2.如权利要求1所述的接触窗结构的形成方法,其特征在于,所述刻蚀垫片的材料与所述介质层的材料不相同。
3.如权利要求2所述的接触窗结构的形成方法,其特征在于,刻蚀所述介质层形成刻蚀孔时,所述介质层相对于刻蚀垫片具有高的刻蚀选择比。
4.如权利要求2所述的接触窗结构的形成方法,其特征在于,去除所述刻蚀垫片时,所述刻蚀垫片相对于所述介质层具有高的刻蚀选择比。
5.如权利要求1所述的接触窗结构的形成方法,其特征在于,所述刻蚀孔底部的尺寸小于所述刻蚀垫片顶部的尺寸。
6.如权利要求1或5所述的接触窗结构的形成方法,其特征在于,所述刻蚀垫片的形成过程为:在所述目标层和基底上形成刻蚀垫片材料层;图形化所述刻蚀垫片材料层,在所述目标层上形成刻蚀垫片。
7.如权利要求1所述的接触窗结构的形成方法,其特征在于,所述刻蚀垫片的高度为接触窗结构的深度的1%-30%。
8.如权利要求1所述的接触窗结构的形成方法,其特征在于,所述目标层的数量为一个,所述刻蚀垫片位于所述一个目标层的表面上。
9.如权利要求1所述的接触窗结构的形成方法,其特征在于,所述目标层的数量多个,相应的所述刻蚀垫片的数量也为多个,每一个所述刻蚀垫片位于相应的一个目标层的表面上。
10.如权利要求1所述的接触窗结构的形成方法,其特征在于,所述目标层的数量至少为一个,相应的所述刻蚀垫片的数量也至少为一个,每一个所述刻蚀垫片一部分位于相应的一个目标层的部分表面上,另一部分位于该目标层一侧的基底表面上。
11.如权利要求1所述的接触窗结构的形成方法,其特征在于,所述目标层的数量为多个,所述刻蚀垫片的数量为一个,一个所述刻蚀垫片横跨位于多个所述目标层的表面,去除所述刻蚀垫片形成的刻蚀通道暴露出多个目标层的部分表面。
12.如权利要求8或9或10或11所述的接触窗结构的形成方法,其特征在于,在所述接触窗结构中填充金属,形成接触插塞。
13.一种权利要求1-11任一项所述的方法形成的接触窗结构,其特征在于,包括:
基底,所述基底中形成有目标层,所述基底露出所述目标层的表面;
位于所述基底和目标层上的介质层;
位于介质层中的接触窗结构,所述接触窗结构包括连通的刻蚀孔和刻蚀通道,所述刻蚀孔位于刻蚀通道上方,所述刻蚀通道暴露出目标层的部分表面,且所述刻蚀通道为在介质层中形成刻蚀孔后,通过去除位于所述目标层表面上的刻蚀垫片后形成。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造