[发明专利]接触窗结构及其形成方法在审

专利信息
申请号: 202011000651.2 申请日: 2020-09-22
公开(公告)号: CN114256134A 公开(公告)日: 2022-03-29
发明(设计)人: 吴秉桓 申请(专利权)人: 长鑫存储技术有限公司
主分类号: H01L21/768 分类号: H01L21/768;H01L23/48
代理公司: 上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294 代理人: 孙佳胤;高德志
地址: 230601 安徽省合肥市*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 接触 结构 及其 形成 方法
【权利要求书】:

1.一种接触窗结构的形成方法,其特征在于,包括:

提供基底,所述基底中形成有目标层,所述基底露出所述目标层的表面;

在所述目标层表面上形成刻蚀垫片;

形成覆盖所述基底、目标层和刻蚀垫片的介质层;

刻蚀所述介质层,在所述介质层中形成刻蚀孔,所述刻蚀孔底部暴露出所述刻蚀垫片的顶部表面;

沿刻蚀孔去除所述刻蚀垫片,形成与刻蚀孔连通的刻蚀通道,所述刻蚀通道暴露出目标层的部分表面,所述刻蚀通道与刻蚀孔构成接触窗结构。

2.如权利要求1所述的接触窗结构的形成方法,其特征在于,所述刻蚀垫片的材料与所述介质层的材料不相同。

3.如权利要求2所述的接触窗结构的形成方法,其特征在于,刻蚀所述介质层形成刻蚀孔时,所述介质层相对于刻蚀垫片具有高的刻蚀选择比。

4.如权利要求2所述的接触窗结构的形成方法,其特征在于,去除所述刻蚀垫片时,所述刻蚀垫片相对于所述介质层具有高的刻蚀选择比。

5.如权利要求1所述的接触窗结构的形成方法,其特征在于,所述刻蚀孔底部的尺寸小于所述刻蚀垫片顶部的尺寸。

6.如权利要求1或5所述的接触窗结构的形成方法,其特征在于,所述刻蚀垫片的形成过程为:在所述目标层和基底上形成刻蚀垫片材料层;图形化所述刻蚀垫片材料层,在所述目标层上形成刻蚀垫片。

7.如权利要求1所述的接触窗结构的形成方法,其特征在于,所述刻蚀垫片的高度为接触窗结构的深度的1%-30%。

8.如权利要求1所述的接触窗结构的形成方法,其特征在于,所述目标层的数量为一个,所述刻蚀垫片位于所述一个目标层的表面上。

9.如权利要求1所述的接触窗结构的形成方法,其特征在于,所述目标层的数量多个,相应的所述刻蚀垫片的数量也为多个,每一个所述刻蚀垫片位于相应的一个目标层的表面上。

10.如权利要求1所述的接触窗结构的形成方法,其特征在于,所述目标层的数量至少为一个,相应的所述刻蚀垫片的数量也至少为一个,每一个所述刻蚀垫片一部分位于相应的一个目标层的部分表面上,另一部分位于该目标层一侧的基底表面上。

11.如权利要求1所述的接触窗结构的形成方法,其特征在于,所述目标层的数量为多个,所述刻蚀垫片的数量为一个,一个所述刻蚀垫片横跨位于多个所述目标层的表面,去除所述刻蚀垫片形成的刻蚀通道暴露出多个目标层的部分表面。

12.如权利要求8或9或10或11所述的接触窗结构的形成方法,其特征在于,在所述接触窗结构中填充金属,形成接触插塞。

13.一种权利要求1-11任一项所述的方法形成的接触窗结构,其特征在于,包括:

基底,所述基底中形成有目标层,所述基底露出所述目标层的表面;

位于所述基底和目标层上的介质层;

位于介质层中的接触窗结构,所述接触窗结构包括连通的刻蚀孔和刻蚀通道,所述刻蚀孔位于刻蚀通道上方,所述刻蚀通道暴露出目标层的部分表面,且所述刻蚀通道为在介质层中形成刻蚀孔后,通过去除位于所述目标层表面上的刻蚀垫片后形成。

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