[发明专利]一种CMOS图像传感器的测试装置

说明书

本发明公开了一种CMOS图像传感器的测试装置，包括测试母板和多个测试子板；测试母板上设置FPGA主控芯片和LDO芯片以及第一连接器，FPGA主控芯片用于执行预先编辑的测试程序，输出和待测CMOS图像传感器的型号对应的测试信号，测试子板上设置有和第一连接器可插拔连接的第二连接器，以及用于和待测CMOS图像传感器相连接的第三连接器；每个第三连接器分别用于和不同型号的待测CMOS图像传感器相连接。本申请针对不同型号的CMOS图像传感器设置多个不同的测试子板，及FPGA主控芯片中测试程序可现场编程的特性，实现同一个测试母板对多种不同型号的CMOS图像传感器的测试，降低了CMOS图像传感器的测试成本。

技术领域

本发明涉及图像传感器技术领域，特别是涉及一种CMOS图像传感器的测试装置。

背景技术

CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor，金属氧化物半导体)图像传感器是成像平台中重要的电子器件之一，在各种捕捉和测量等机器视觉领域中被广泛应用。而为了保证CMOS图像传感器能够良好的完成工作任务，就需要对CMOS图像传感器的工作性能进行重点关注。

为此，在CMOS图像传感器实际应用直接，就需要对CMOS图像传感器进行性能测试。主要是通过向CMOS图像传感器的感光面发射光照，并为CMOS图像传感器提供驱动其工作的测试信号，使得CMOS图像传感器感光成像并输出对应的图像数据，根据该图像数据即可判断出CMOS图像传感器的工作性能是否良好。

但是针对不同的任务需求所采用的CMOS图像传感器对应的型号、性能参数以及封装结构各不相同。如果对于每一种型号的CMOS图像传感器都设计和开发一套验证和测试平台，硬件设计和调试的工作量巨大，并且会增加很多的经济成本。

发明内容

本发明的目的是提供一种CMOS图像传感器的测试装置，能够实现多种不同型号的CMOS图像传感器的工作性能测试，在一定程度上降低了多种CMOS图像传感器测试的经济成本。

为解决上述技术问题，本发明提供一种CMOS图像传感器的测试装置，包括测试母板和多个测试子板；

所述测试母板上设置FPGA主控芯片和LDO芯片以及第一连接器，其中，所述FPGA主控芯片用于执行预先根据待测CMOS图像传感器的型号编辑的测试程序，输出和所述待测CMOS图像传感器的型号对应的测试信号；所述LDO芯片用于为所述待测CMOS图像传感器提供工作电压；

所述测试子板上设置有可和所述第一连接器可插拔连接的第二连接器，以及用于和所述待测CMOS图像传感器相连接的第三连接器；其中，各个所述测试子板上的所述第三连接器各不相同，分别用于和不同型号的所述待测CMOS图像传感器相连接。

在本申请的一种可选地实施例中，所述LDO芯片为输出电压可调的芯片。

在本申请的一种可选地实施例中，所述LDO芯片的数量为多个，各个所述LDO芯片的输出电压可调范围各不相同。

在本申请的一种可选地实施例中，各个所述测试子板的尺寸大小和所述测试子板上的所述第三连接器对应连接的所述待测CMOS图像传感器的尺寸大小相配合。

在本申请的一种可选地实施例中，所述FPGA主控芯片包括：

用于执行所述测试程序，输出所述待测CMOS图像传感器对应的驱动信号和配置信号的CMOS驱动模块；

用于采集所述待测CMOS图像传感器输出的图像数据的数据缓存模块；

以及用于输出所述待测CMOS图像传感器测试结果的Camera-link输出模块。

在本申请的一种可选地实施例中，所述测试母板上还设置有外部DDR3芯片，所述FPGA主控芯片还包括DDR3缓存模块；