[发明专利]一种芯片多功能测试台

权利要求书

1.一种芯片多功能测试平台，包括测试台（1）和挤压板（2），其特征在于：所述测试台（1）的顶部上表面中间位置开设有凹槽（3），所述凹槽（3）内部设置有检测板（4），所述测试台（1）的底部表面中间位置设置有插杆（5），所述插杆（5）的底端位置设置有连接环（6），所述挤压板（2）的底面中间位置安装有衔接块（7），所述挤压板（2）的内部靠近两侧的位置设置有限位板（8），所述挤压板（2）的后方表面位置安装有检测器（9）。

2.根据权利要求1所述的一种芯片多功能测试平台，其特征在于：所述测试台（1）呈长方体状，所述凹槽（3）呈矩形，所述检测板（4）的底面连接于凹槽（3）的底面，并且二者之间为固定连接，所述测试台（1）的上表面靠近外边缘位置内嵌有垫圈（10），所述垫圈（10）呈矩形，所述插杆（5）的顶端贯穿测试台（1）的底部，并且固定连接于与检测板（4）的底面位置。

3.根据权利要求1所述的一种芯片多功能测试平台，其特征在于：所述衔接块（7）的底面固定连接有电流探头（11），所述衔接块（7）的两侧位置开设有槽口（12），所述槽口（12）呈长条矩形，所述槽口（12）的数量有两个，并且以衔接块（7）为中心呈对称分布，所述检测器（9）固定连接于挤压板（2）的后方位置。

4.根据权利要求3所述的一种芯片多功能测试平台，其特征在于：所述限位板（8）穿过槽口（12），所述限位板（8）数量有两块，所述限位板（8）的底端位置固定连接有接触板（13），所述接触板（13）的数量有两块，所述挤压板（2）的两侧位置均设置有调节螺栓（14），所述调节螺栓（14）通过螺孔（17）穿过挤压板（2）和槽口的侧面并与限位板（8）之间为相互螺接，所述右侧的限位板（8）的内部表面位置开设有限位槽（15），所述调节螺栓（14）穿过限位槽（15），所述限位板（8）通过限位槽（15）活动连接于挤压板（2）。

5.根据权利要求1所述的一种芯片多功能测试平台，其特征在于：所述限位板（8）的正上方位置固定连接有调节架（16），所述调节架（16）的数量有两个，所述调节架（16）呈“n”字形，所述调节架（16）的顶端中间位置开设有螺孔（17），所述螺孔（17）中安装有固定螺栓（18），所述固定螺栓（18）穿过调节架（16）顶部的螺孔（17）与限位板（8）进行螺接，所述固定螺栓（18）与螺孔（17）的数量均有两个。

6.根据权利要求1所述的一种芯片多功能测试平台，其特征在于：所述插杆（5）穿过测试台（1）的底部，并且与检测板（4）的底面进行焊接，所述连接环（6）焊接于插杆（5）的末端位置，所述连接环（6）与测试台（1）的底面之间的位置活动连接有弹簧（19），所述弹簧（19）套接于插杆（5）的中段位置。