[发明专利]管道环焊缝相控阵检测对比试块及其检测方法

说明书

本申请涉及一种管道环焊缝相控阵检测对比试块及其检测方法，涉及相控阵超声的领域，本申请相控阵超声的领域包括试块本体、收纳盒、定位撑座、让位转座和清理刷板，收纳盒上设置有收纳组件；定位撑座固定设置在收纳盒开口端的一侧外侧壁上，让位转座转动设置在收纳盒开口端与定位撑座相对的侧壁上，收纳盒上设置有定位件；让位转座和定位撑座均与清理刷板相连，清理刷板位于定位撑座与让位转座相对的侧壁上，清理刷板位于让位转座沿转动方向相对于定位撑座的侧壁上；当让位转座转动至两清理刷板相对时，两清理刷板与试块本体的探头面抵接；让位转座和定位撑座上均设置有排料组件。本申请可以提高对试块本体上耦合剂的清理便捷性。

技术领域

本申请涉及相控阵超声的领域，尤其是涉及一种管道环焊缝相控阵检测对比试块及其检测方法。

背景技术

相控阵超声是利用相位延迟、合成孔径技术、数字合成技术，进行超声无损检测的一项技术。一般进行相控阵无损检测前，需要对系统的组合性能对不同形状的试块进行校准，从而得到可靠的相控阵超声无损检测系统。但是，在试块的检测过程中，检测探头上会涂膜耦合剂，耦合剂会残留在试块与探头的接触面上，造成对试块后续使用时的精度造成影响。

公告号为CN211453486U的中国专利，公开了一种管道环焊缝相控阵检测对比试块，涉及超声波检测试块技术领域，其包括试块本体，试块本体一侧开设有第一弧段和第二弧段，第二弧段的直径落于第一弧段的直径范围内，试块本体上还开设有若干横穿试块本体两侧的校准孔，若干校准孔沿试块高度方向阵列设置，校准孔与第二弧段之间还开设有横穿试块本体的阶梯孔，试块本体垂直与阶梯孔横穿面的两侧面为探头面，还包括用于罩设试块本体的试块盒，试块盒两侧对应探头面开设有清理口，清理口内设置有用于对试块本体粘附耦合剂的探头面进行清理的清理部件。

针对上述中的相关技术，发明人认为：上述专利将试块本体放入试块盒的时候，在将试块本体推入试剂盒内的同时，还要通过按压清理部件中的清理块，使清理部件中的刮槽对试块本体的探头面进行清理，才能在试块本体收纳起来前将残留的耦合剂清理下来，十分麻烦。

发明内容

为了提高对试块本体上残留耦合剂的清理效果，本申请提供一种管道环焊缝相控阵检测对比试块及其检测方法。

第一方面，本申请提供一种管道环焊缝相控阵检测对比试块，采用如下的技术方案：

一种管道环焊缝相控阵检测对比试块，包括试块本体、收纳盒、定位撑座、让位转座和清理刷板，所述收纳盒一端开口设置，所述收纳盒上设置有收纳组件，所述收纳组件用于将试块本体从收纳盒的开口端收入收纳盒中；所述定位撑座固定设置在收纳盒开口端的一侧外侧壁上，所述让位转座转动设置在收纳盒开口端与定位撑座相对的侧壁上，所述收纳盒上设置有用于固定让位转座的定位件；所述让位转座和定位撑座均与清理刷板相连，所述清理刷板位于定位撑座与让位转座相对的侧壁上，所述清理刷板位于让位转座沿转动方向相对于定位撑座的侧壁上；当所述让位转座转动至两清理刷板相对时，两所述清理刷板与试块本体的探头面抵接；所述让位转座和定位撑座上均设置有排料组件，所述排料组件用于排出清理出的试剂。

通过采取上述技术方案，在对试块本体进行检测之后，转动让位转座，使得让位转座为试块本体让出空间，可以将试块本体顺利放置到收纳组件中的规定位置，同时试块本体的一侧探头面与定位撑座清理刷板抵接；然后反转让位转座，使得让位转座上的清理刷板抵在试块本体上的另一探头面上；从而在利用收纳组件将试块本体推入到收纳盒中的过程中，清理刷板可以抵着试块本体的探头面滑移，将粘附在试块本体探头面上的耦合剂清理下来，同时排料组件可以将清理下来的耦合剂收集起来，从而本申请在将试块本体推入到收纳盒中的过程中，可以直接对试块本体探头面上的耦合剂进行清理，方便快捷。