[发明专利]一种基于比色法的高温高速测温仪在审

专利信息
申请号: 202011004422.8 申请日: 2020-09-22
公开(公告)号: CN112414561A 公开(公告)日: 2021-02-26
发明(设计)人: 李昌立 申请(专利权)人: 菲兹克光电(长春)有限公司
主分类号: G01J5/10 分类号: G01J5/10;G01J5/08
代理公司: 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465 代理人: 符继超
地址: 130000 吉林*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 比色 高温 高速 测温
【权利要求书】:

1.一种基于比色法的高温高速测温仪,其特征在于,包括:光学部分(100)和电路部分(200);

其中,所述光学部分(100)包括:指示光激光器(103)、激光扩束准直镜(102)、双色反射镜(104)、光学镜头(101)、双色分光镜(105)、窄带滤光片一(171)、聚焦透镜三(181)、窄带滤光片二(172)和聚焦透镜四(182);

所述指示激光器(103)发出的可见激光,经所述激光扩束准直镜(102)扩束准直,变成平行光后经所述双色反射镜(104)反射,经所述光学镜头(101)聚焦到目标测试点;所述目标测试点发出的近红外辐射,经所述光学镜头(101)变成平行光后,透过所述双色反射镜(104),经所述双色分光镜(105)均分成两部分,一部分经过所述窄带滤光片一(171)滤波,由所述聚焦透镜三(181)汇聚,另一部分经过所述窄带滤光片二(172)滤波,由所述聚焦透镜四(182)汇聚;

所述电路部分(200)包括:光电探测器一(211)、光电探测器二(212)、前置放大电路一(221)、前置放大电路二(222)、峰值保持电路一(231)、峰值保持电路二(232)、AD采集一(241)、AD采集二(242)和上位机(205);

所述聚焦透镜三(181)与所述光电探测器一(211)相连,所述聚焦透镜四(182)和所述光电探测器二(212)相连,所述光电探测器一(211)、所述前置放大电路一(221)、所述峰值保持电路一(231)、所述AD采集一(241)依次电连接;所述光电探测器二(212)、所述前置放大电路二(222)、所述峰值保持电路二(232)、所述AD采集二(242)依次电连接;所述AD采集一(241)和所述AD采集二(242)均与所述上位机(205)电连接;

所述聚焦透镜三(181)、所述聚焦透镜四(182),分别将经过所述窄带滤光片一(171)和所述窄带滤光片二(172)滤波的光信号,聚焦到所述光电探测器一(211)和所述光电探测器二(212),进行光电转换,转换成电信号,再分别经过所述前置放大电路一(221)和所述前置放大电路二(222)进行信号放大后,由所述峰值保持电路一(231)和所述峰值保持电路二(232)进行信号的脉冲展宽,然后经所述AD采集一(241)和所述AD采集二(242),进行模数转换,由所述上位机(205)采集。

2.根据权利要求1所述的一种基于比色法的高温高速测温仪,其特征在于,所述指示光激光器(103)工作在可见光波段,所述高温高速测温仪工作在800-1700nm的近红外波段。

3.根据权利要求1所述的一种基于比色法的高温高速测温仪,其特征在于,所述双色反射镜(104)对所述指示光激光器(103)发出的可见激光45°反射,而对所述目标测试点发出的近红外波段45°透射。

4.根据权利要求1所述的一种基于比色法的高温高速测温仪,其特征在于,所述窄带滤光片一(171)和所述窄带滤光片二(172)工作在近红外波段,且窄带滤光片一(171)和所述窄带滤光片二(172)具有不同的透射中心波长,且中心波长相差50nm以上。

5.根据权利要求1所述的一种基于比色法的高温高速测温仪,其特征在于,所述双色分光镜(105),其透反特性为反射光包含所述窄带滤光片一(171)的所有波段,透射光包含所述窄带滤光片二(172)的所有波段;

其中,所述双色分光镜(105)反射的反射光通过反射镜(106)反射至所述窄带滤光片一(171)上。

6.根据权利要求1所述的一种基于比色法的高温高速测温仪,其特征在于,所述光学镜头(101)包括至少镜组一(1011)、镜组二(1013)和光阑(1012),所述镜组一(1011)和所述镜组二(1013)均至少包括一片透镜;

所述镜组一(1011)将所述目标测试点发出的辐射聚焦到所述镜组二(1013)的焦点处,经所述镜组二(1013)变成平行光,所述光阑(1012)设置在所述镜组二(1013)的焦点处,所述光阑(1012)与所述镜组二(1013)固定连接,所述镜组一(1011)与所述光阑(1012)螺纹连接,通过旋转螺纹实现调焦。

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