[发明专利]显示面板及其制备方法、光检测方法、显示装置

说明书

一种显示面板及其制备方法、光检测方法、显示装置，显示面板包括相对设置的阵列基板和对向基板，阵列基板上设置有光检测电路和参考信号生成电路，光检测电路用于检测入射光光强，生成与入射光光强相应的电信号；参考信号生成电路用于生成无入射光照射时相应的电信号；对向基板包括透光区和遮光区，至少部分透光区在阵列基板上的正投影与光检测电路在阵列基板上的正投影相交叠，遮光区在阵列基板上的正投影覆盖参考信号生成电路在阵列基板上的正投影。本公开实现了环境光检测，且降低了显示装置的总体成本，有利于应用显示面板的电子设备实现整机功能一体化，且显示面板无需为光检测电路开透孔，有利于电子设备实现全面屏。

技术领域

本公开涉及但不限于显示技术领域，尤其涉及一种显示面板及其制备方法、光检测方法、显示装置。

背景技术

随着显示技术的发展以及显示设备的广泛应用，使用者对显示设备提出了更高的要求，例如，要求显示设备可以根据环境光的情况自行调节其显示亮度，以及要求显示设备具有更低的功耗。

一些显示设备通过安装感光传感器来感知环境光线的强度，以调节显示面板的亮度，并达到降低功耗的效果。但是，感光传感器的成本高，且需要显示面板单独开孔来满足其采集环境光线的需要，不利于显示设备实现全面屏。

发明内容

本公开实施例提供一种显示面板及其制备方法、光检测方法、显示装置，能够降低成本且显示面板无需开孔，有利于实现全面屏。

本公开实施例提供了一种显示面板，包括相对设置的阵列基板和对向基板，所述阵列基板上设置有光检测电路和参考信号生成电路，所述光检测电路用于检测入射光光强，生成与入射光光强相应的电信号；所述参考信号生成电路用于生成无入射光照射时相应的电信号；所述对向基板包括透光区和遮光区，至少部分所述透光区在所述阵列基板上的正投影与所述光检测电路在所述阵列基板上的正投影相交叠，所述遮光区在所述阵列基板上的正投影覆盖所述参考信号生成电路在所述阵列基板上的正投影。

在示例性实施例中，至少部分所述透光区朝向所述阵列基板的一侧设置有棱镜结构，所述棱镜结构由多个棱镜单元组成，所述棱镜结构在所述阵列基板上的正投影与所述光检测电路在所述阵列基板上的正投影相交叠。

在示例性实施例中，多个所述棱镜单元沿第一方向依次设置，至少一个所述棱镜单元为沿第二方向延伸的柱状体，在垂直于所述显示面板的平面内，多个所述棱镜单元的第一方向的横截面均为等腰三角形。

在示例性实施例中，所述棱镜单元为四棱锥或三棱锥。

在示例性实施例中，所述显示面板包括显示区和周边区，所述光检测电路和所述参考信号生成电路位于所述周边区内。

在示例性实施例中，所述显示面板还包括检测单元和供电单元，所述检测单元包括第一检测端和第二检测端，所述供电单元包括第一供电端和第二供电端，所述光检测电路包括N个相同的第一晶体管，所述参考信号生成电路包括N个相同的第二晶体管，且第一晶体管和第二晶体管为相同的晶体管，N个所述第一晶体管的控制极与N个所述第二晶体管的控制极均连接至所述第一供电端，N个所述第一晶体管的第一极与N个所述第二晶体管的第一极均连接至所述第二供电端，N个所述第一晶体管的第二极与所述第一检测端相连，N个所述第二晶体管的第二极与所述第二检测端相连，N为大于或等于1的整数。

在示例性实施例中，所述阵列基板和对向基板之间设置有介质层，所述介质层的折射率大于或小于所述对向基板的折射率。

在示例性实施例中，所述介质层为液晶。

在示例性实施例中，所述显示面板为有机发光二极管OLED显示面板、量子点发光二极管QLED显示面板、亚毫米发光二极管Mini-LED显示面板或微发光二极管Micro-LED显示面板。

本公开实施例还提供了一种显示装置，包括前述实施例的显示面板。