[发明专利]一种用于二维平面位移测量的处理电路

权利要求书

1.一种用于二维平面位移测量的处理电路，其特征在于，该电路包括：图像数据接收连接器、图像数据接收模块、编码识别模块、细分运算模块、数据综合模块、数据输出模块和数据输出连接器，所述图像数据接收模块通过图像数据接收连接器接收外部设备传输的图像像素数据，并把图像像素数据分别传输至编码识别模块和细分运算模块，所述编码识别模块对所述图像像素数据进行识别和译码，所述细分运算模块对所述图像像素数据进行二维的细分运算，所述数据综合模块接收所述编码识别模块运算得到的译码值和细分运算模块运算得到的细分值后，通过数据综合模块对数据进行融合，所述数据输出模块将融合后的数据通过数据输出连接器发送至接收设备。

2.根据权利要求1所述的一种用于二维平面位移测量的处理电路，其特征在于，所述图像数据接收连接器与所述图像数据接收模块相连接，所述编码识别模块和细分运算模块分别与所述图像数据接收模块相连接，所述数据综合模块分别与所述编码识别模块和细分运算模块连接，所述数据输出模块与所述数据综合模块相连接，所述数据输出连接器与所述数据输出模块相连接。

3.根据权利要求1所述的一种用于二维平面位移测量的处理电路，其特征在于，所述图像数据接收连接器接收到的图像像素数据中，应至少包括N×M个用于标注横向和纵向编码信息的编码标线，N代表横向编码的数量，M代表纵向编码的数量，N的二进制位数为n，M的二进制位数为m。

4.根据权利要求3所述的一种用于二维平面位移测量的处理电路，其特征在于，所述编码识别模块根据所述图像像素信息中，编码标线在横向或纵向宽度的差异，获取每个编码标线在横向所代表的的编码值x和纵向代表的编码值y，根据识别到的编码标线的宽度差异，宽编码设为x＝1，纵向为y＝1；窄编码设为x＝0，纵向为y＝0。

5.根据权利要求3或4所述的一种用于二维平面位移测量的处理电路，其特征在于，所述编码识别模块对所述图像像素数据进行编码识别，对以图像中点为中心的n个编码标线同时进行编码值的识别，并在横向得到{x₁,x₂,x₃,…,x_n}的编码数组，在纵向得到{y₁,y₂,y₃,…,y_m}的编码数组。

6.根据权利要求4所述的一种用于二维平面位移测量的处理电路，其特征在于，所述编码识别模块对识别到的编码数组进行译码，将得到的横向编码组{x₁,x₂,x₃,…,x_n}和纵向编码组{y₁,y₂,y₃,…,y_m}分别查询译码表，分别得到横向和纵向的译码数值A_x和A_y。

7.根据权利要求1所述的一种用于二维平面位移测量的处理电路，其特征在于，所述细分运算模块实现二维细分运算，在图像中设定中心点，中心点在横向的坐标为c_x，在纵向的坐标为c_y，通过质心算法计算中心点两侧的两个编码标线的质心位置，在横向的坐标为x_a和x_b，在纵向的坐标为y_a和y_b，根据运算

计算得到横向的细分数值Bx和纵向的细分数值By，η为细分倍数。

8.根据权利要求6或7所述的一种用于二维平面位移测量的处理电路，其特征在于，所述数据综合模块将所述二维译码值A_x和A_y和二维的细分运算值B_x和B_y进行融合，得到二维位移测量数据。