[发明专利]一种基于时频分析的太赫兹厚度检测优化方法

权利要求书

1.一种基于时频分析的太赫兹厚度检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1：通过太赫兹系统采集太赫兹时域脉冲信号，进行简单预处理；

步骤2：时域信号的时频分析，获得时域信号的时频矩阵，令i＝1；

步骤3：设置第i反射峰峰值幅度阈值T_i，查找时域信号中的第i反射峰，获取第i反射峰位置P_i，即在太赫兹时域波形图中的横坐标,根据第i反射峰的位置P_i，查询信号时频矩阵对应位置附近瞬时频率特征向量V_i；

步骤4：判断T_i是否小于设定值，若否i＝i+1，重复步骤3，否则进入下一步；

步骤5：将步骤3-步骤4获取的所有反射峰的位置组成反射峰位置数组Pt，Pt为{P₁，……，P_n}；

步骤6：计算与第一反射峰对应的瞬时频率特征向量V₁与其他反射峰对应的瞬时频率特征向量V_i之间的相似度系数，获取相似度数据，其中i为1,2,…,n，设定相似度筛选阈值Trs，过滤获取有效的峰值检索数组Ptf；

步骤7：比对反射峰位置数组Pt和峰值检索数组Ptf，获取二者交集数据Pi，其为有效峰组；

步骤8：根据以下公式，依次计算各层厚度d，输出厚度数组D

d＝t*v*cos(θ)/2，式中,t为不同层反射信号与表层反射信号的相对时延，v为光速，θ为信号入射角度。

2.根据权利要求1中所述的基于时频分析的太赫兹厚度检测方法，其特征在于，步骤6中，相似度系数计算方法为皮尔逊相关系数或曼哈顿距离。