[发明专利]投影系统照度测量方法、设备及可读存储介质

权利要求书

1.一种投影系统照度测量方法，其特征在于，所述投影系统照度测量方法包括：

获取待测量投影屏的几何参数，并基于所述几何参数，确定初始测量点坐标；

基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述待测量投影屏对应的目标测量照度；

其中，所述基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述待测量投影屏对应的目标测量照度的步骤包括：

基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述初始测量点坐标对应的各目标测量点坐标；

基于所述初始测量点坐标和各所述目标测量点坐标，对所述待测量投影屏进行照度测量，获得所述待测量投影屏对应的目标测量照度；

其中，所述预设激光灯阵列包括第一激光灯和第二激光灯，

所述基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述初始测量点坐标对应的各目标测量点坐标的步骤包括：

基于所述初始测量点坐标，分别确定所述第一激光灯的第一初始位置和所述第二激光灯的第二初始位置；

基于预设滑动步长，控制所述第一激光灯由所述第一初始位置进行横向滑动和所述第二激光灯由所述第二初始位置进行纵向滑动，以获取滑动后的所述第一激光灯和滑动后的所述第二激光灯共同对应的各第一激光交点；

分别将各所述第一激光交点的坐标作为各所述目标测量点坐标，其中，一所述第一激光交点的坐标对应一所述目标测量点坐标。

2.如权利要求1所述投影系统照度测量方法，其特征在于，所述预设激光灯阵列包括横向激光灯组和纵向激光灯组，

所述基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述初始测量点坐标对应的各目标测量点坐标的步骤包括：

基于所述初始测量点坐标和预设激光灯位置间距，确定所述横向激光灯组对应的各横向激光灯位置和所述纵向激光灯组对应的各纵向激光灯位置；

基于各所述横向激光灯位置和各所述纵向激光灯位置，分别布置所述横向激光灯组和所述纵向激光灯组，以获取布置后的所述横向激光灯组和布置后的所述纵向激光灯组共同对应的各第二激光交点；

分别将各所述第二激光交点的坐标作为各所述目标测量点坐标，其中，一所述第二激光交点的坐标对应一所述目标测量点坐标。

3.如权利要求1所述投影系统照度测量方法，其特征在于，所述基于所述初始测量点坐标和各所述目标测量点坐标，对所述待测量投影屏进行照度测量，获得所述待测量投影屏对应的目标测量照度的步骤包括：

分别在所述初始测量点坐标处和各所述目标测量点坐标处进行照度测量，获得所述初始测量点坐标和各所述目标测量点坐标共同对应的测量照度数据；

对所述测量照度数据中各元素进行求平均，获得所述目标测量照度。

4.如权利要求1所述投影系统照度测量方法，其特征在于，所述几何参数包括投影屏宽和投影屏长，

所述基于所述几何参数，确定初始测量点坐标的步骤包括：

基于所述投影屏宽和所述投影屏长，计算所述待测量投影屏对应的几何中心坐标；

将所述几何中心坐标作为所述初始测量点坐标。

5.如权利要求1所述投影系统照度测量方法，其特征在于，所述基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述待测量投影屏对应的目标测量照度的步骤还包括：

测量所述初始测量点坐标处的照度，获得第一照度；

基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，依次测量所述初始测量点坐标对应的各待测量点位置的照度，获得各第二照度；

对所述第一照度和各所述第二照度求平均，获得所述待测量投影屏对应的目标测量照度。