[发明专利]零长柱法测定多孔材料晶内扩散系数的装置及方法在审

专利信息
申请号: 202011014183.4 申请日: 2020-09-24
公开(公告)号: CN111999218A 公开(公告)日: 2020-11-27
发明(设计)人: 薛峰;张成;陈奇;高雪超;居沈贵;邢卫红 申请(专利权)人: 南京工业大学
主分类号: G01N13/00 分类号: G01N13/00
代理公司: 南京知识律师事务所 32207 代理人: 韩朝晖
地址: 211816 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 零长 测定 多孔 材料 扩散系数 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种零长柱法测定多孔材料晶内扩散系数的装置,包括气室系统、吸脱附系统和数据采集和处理系统,其特征在于,所述的吸脱附系统在载气流动方向上依次包括汽化室(11)、吸附脱附室(15、16)和检测室(17),其中汽化室(11)为吸附质装料室,吸附脱附室(15、16)由并联的空白室(15)和测量室(16)组成,其中空白室(15)不装填吸附剂用于进行空白实验,测量室(16)装填多孔材料进行晶内扩散系数测量;所述的吸附脱附室(15、16)包括同轴的变径圆柱形腔体,载气沿轴向流动,腔体内包含两片叠合的圆形载片(31),所述的载片(31)为多孔材料,载片(31)之间填充吸附剂层,载片(31)直径略小于大圆柱形腔体,装入大圆柱形腔体至变径处,另一端旋入内螺母(32)以螺纹方式紧固。

2.根据权利要求1所述的零长柱法测定多孔材料晶内扩散系数的装置,其特征在于,所述的吸附脱附室(15、16)腔体两端通过外螺纹和螺母与输气管相连。

3.根据权利要求1所述的零长柱法测定多孔材料晶内扩散系数的装置,其特征在于,所述的载片由直径较小的平面圆形底载片(42)和直径较大的平面圆盘状盖载片(41)组成,吸附剂装在底载片(42)表面,盖载片(41)与底载片(42)紧密相扣。

4.根据权利要求1所述的零长柱法测定多孔材料晶内扩散系数的装置,其特征在于,所述载片(31)采用多孔金属材料。

5.根据权利要求1所述的零长柱法测定多孔材料晶内扩散系数的装置,其特征在于,所述的气室系统包括氮气源(1),供应载气和吹扫气;载气和吹扫气通过三通阀(10)进行切换。

6.根据权利要求1所述的零长柱法测定多孔材料晶内扩散系数的装置,其特征在于,所述的检测室(17)装有氢火焰离子检测器。

7.根据权利要求1所述的零长柱法测定多孔材料晶内扩散系数的装置,其特征在于,所述的数据采集和处理系统包括放大器(19)和记录仪(20),记录仪(20)采用计算机安装的数据采集在/离线工作站。

8.一种采用权利要求1所述的装置测定多孔材料晶内扩散系数的方法,包括如下步骤:(1).将准确称量的多孔材料平铺在载片(31)之间装入测量室(17),紧固后形成薄层,并往汽化室(11)中装入吸附质;(2).打开气室系统气源,接通吸脱附系统以及数据采集和处理系统电源;(3).调节吸脱附系统设定温度至待测温度,打开检测室,将装置调节至吸附状态,依次对空白室(15)和测量室(16)测量,并开始数据采集;(4).待吸附稳定后,测量载气流速;(5).达到完全吸附后,将装置调节至脱附状态,待时间响应曲线纵坐标归零或趋于零且为稳定直线即表示脱附完全;(6).在数据采集和处理系统上得到时间-电压响应数据,将时间-电压响应数据进行归一化处理,并利用MATLAB建立数学模型求出测得的晶内扩散系数值。

9.根据权利要求8所述的测定多孔材料晶内扩散系数的装置,其特征在于,所述的步骤(6)的方法包括以下具体步骤:

(1)对时间-电压响应数据归一化处理:以脱附分离突变点时间点为0时刻点,将电压数据进行归一化处理,处理公式如下:

其中X0为0时刻点时的电压值,X1为脱附结束时刻的电压值,Xm为每一时刻点的电压值,上述电压值单位均为mV;

(2)归一化完成后,选取30-50组数据导入MATLAB程序中,采用非线性最小二乘拟合对式(1)-式(3)进行参数拟合;

其中流出物相对浓度,即步骤(1)中的X;D为晶内扩散系数;

βn由下列方程所确定:

βncotβn+L-1=0#(2)

L则由下式确定:

其中F为载气流速,mL/min;K为亨利系数,无量纲;Vs为吸附剂体积,m3;R为吸附剂粒径,m;

将扩散时间系数和L作为拟合参数,给定和L的初值,将L代入式(2)求得一系列的β1、β2、…、βn,再将实验数据t及L和β1、β2、…、βn代入式(1),利用lsqcurvefit函数进行参数拟合,得到扩散时间常数和L值;

(3)将所得扩散时间常数和L值以及实验数据t回代入式(1)中求出相对浓度的拟合值,分别作出相对浓度实验值和拟合值对时间t的曲线图,检验拟合曲线对实验曲线的拟合程度,直到满足设定的标准。

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