[发明专利]一种自动测试设备压缩数据传输方法

说明书

本发明公开了一种自动测试设备压缩数据传输方法，包括信号采集模块、信号处理模块、MCU数据处理模块、通信模块和上位机，所述信号采集模块的输出端与信号处理模块的输入端连接，所述信号处理模块的输出端与MCU数据处理模块的输入端连接，所述MCU数据处理模块与通信模块连接，所述通信模块与上位机连接；其传输包含以下步骤：S1：通过信号采集模块进行信号采集；S2：通过信号处理模块对采集的信号进行处理；S3：通过MCU数据处理模块对处理后的信号进行数据处理；S4：通信模块将MCU数据处理模块处理后的数据上传给上位机；S5：上位机分发各类控制指令。本发明，在不更改通信速率及通信方式的情况下，大大提高的数据传送效率。

技术领域

本发明涉及自动测试设备相关技术领域，具体是一种自动测试设备压缩数据传输方法。

背景技术

自动测试设备的上位机（电脑）需要与多个测试模块（测试检测板）通信数据，一般只能采用串口通信方式，现在测试设备上使用的各个测试模块都配有串口通信模块，串口通信方式的优点是协议简单，实现方便，用于上位机与测试模块非常适合。串口通信方式的缺点是受通信速率限制（由于受硬件器件及干扰的限制，不能选择过快的速率），我们在自动设备上经过长期应用，57600的速率是一个综合性能最优的选项。这个速率能满足绝大部分产品的信号的测试需求，但对部分控制板的部分信号测试还是性能不足。要解决这个问题有几个解决方法：1、更换通信方式，将串口通信方式更换为并口通信，此方法最大的问题是，测试模块的通信模块需更改设计，通用性会大大下降，上位机（电脑）无法支持多个并口通信；2、提高串口速率，这个方法受到测试模块的限制，由于硬件原因，部分测试模块无法采用高于57600的速率，而少数模块采用高速率会影响设备的通用性，并且过高的速率，在设备中会更宜受到干扰，影响测试效率。

为此，我们提出一种自动测试设备压缩数据传输方法。

发明内容

本发明的目的在于提供一种自动测试设备压缩数据传输方法，以解决现有技术中的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种自动测试设备压缩数据传输方法，包括信号采集模块、信号处理模块、MCU数据处理模块、通信模块和上位机，所述信号采集模块的输出端与信号处理模块的输入端连接，所述信号处理模块的输出端与MCU数据处理模块的输入端连接，所述MCU数据处理模块与通信模块连接，所述通信模块与上位机连接；其传输包含以下步骤：

S1：通过信号采集模块进行信号采集；

S2：通过信号处理模块对采集的信号进行处理；

S3：通过MCU数据处理模块对处理后的信号进行数据处理；

S4：通信模块将MCU数据处理模块处理后的数据上传给上位机；

S5：上位机分发各类控制指令。

优选的，所述步骤S1中信号采集模块采集被测目标板信号。

优选的，所述步骤S2中信号处理模块是对步骤S1中采集的被测信号进行滤波、放大处理。

优选的，所述步骤S3中MCU数据处理模块收到被测信号，将信号信息转化为数据信息，并进行软件滤波处理，并将处理后的信号进行数据压缩处理。

优选的，所述步骤S5中上位机通过通信电路向测试模块分发各类控制指令。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：在不更改通信速率及通信方式的情况下，采用新的压缩数据传送方式，大大提高的数据传送效率；在固定的单位时间内，上位机（电脑）收到的测试数据更多，提高了测试采样频率。

附图说明

附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：