[发明专利]一种临界装置功率刻度方法有效
| 申请号： | 202011015177.0 | 申请日： | 2020-09-24 |
| 公开（公告）号： | CN112133462B | 公开（公告）日： | 2022-07-29 |
| 发明（设计）人： | 吴明昌;黄礼渊;踪训成;代启东;何杰;郭燕;闫晓 | 申请（专利权）人： | 中国核动力研究设计院 |
| 主分类号： | G21C17/108 | 分类号： | G21C17/108 |
| 代理公司： | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人： | 胡晓丽 |
| 地址： | 610000 四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 临界 装置 功率 刻度 方法 | ||
1.一种临界装置功率刻度方法，其特征在于，在零功率装置堆芯探测点处同时布置探测活化片I和探测活化片II，所述探测活化片I用于进行绝对通量测量，所述探测活化片II用于进行相对通量分布测量；测量过程中同时辐照探测点处的探测活化片I和探测活化片II，同时进行绝对通量测量和相对通量分布测量；将绝对测量与相对测量归并测量，使得测量过程仅需辐照试验一次即可完成堆芯热中子注量率测量工作；
所述探测活化片I采用Au-197材料，所述探测活化片II采用Mn做为活化材料的Mn-Ni合金材料；
Au-197的厚度不超过0.545mm，Mn的厚度不超过1mm；
所述探测活化片I的厚度为0.1mm；所述探测活化片II的厚度为0.2mm。
2.根据权利要求1所述的一种临界装置功率刻度方法，其特征在于，所述探测活化片I和探测活化片II对堆芯中子场扰动不超过1%。
3.根据权利要求1所述的一种临界装置功率刻度方法，其特征在于，还包括堆芯探测材料布置操作：对1/4堆芯象限布置探测材料进行测量，其它三个象限布置若干功率对照点；所述探测材料为探测活化片I和探测活化片II，所述功率对照点用于校核测量结果并检验堆芯通量分布对称性。
4.根据权利要求1至3任一项所述的一种临界装置功率刻度方法，其特征在于，在零功率装置堆芯功率刻度过程中，针对每个通量台阶进行绝对通量测量和相对通量分布测量的同时测量、以及堆芯探测材料布置操作。
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