[发明专利]一种用于大视场宽光谱多光路空间配准的检校装置

说明书

本发明公开一种用于大视场宽光谱多光路空间配准的检校装置，属于军事观瞄技术领域。所述用于大视场宽光谱多光路空间配准的检校装置包括待测产品、若干组反射镜组件、若干组靶标组件和若干组离轴抛物镜组件；在若干组所述靶标组件的靶标后均安装有导电玻璃辐射，使所述靶标组件同时具备微光特性和红外特性；若干组所述离轴抛物镜组件并列排放组成平行光管，使其视场增大；通过改变所述平行光管光轴的夹角，满足任何视场融合产品的调校需求。该检校装置能够同时看到所述待测产品全视场的靶标，非常快捷提高宽光谱多光路空间的配准精度和检校的效率，并且该检校装置的视场可以根据产品视场的需要进行随时调整，实现多种待测产品的检校。

技术领域

本发明涉及军事观瞄技术领域，特别涉及一种用于大视场宽光谱多光路空间配准的检校装置。

背景技术

随着传感器技术的飞速发展，越来越多的传感器因其不同的特征被应用于各个领域。在军事观瞄领域方面，为了对目标的识别和追踪、特征提取、细节判断等活动提供更有效可靠的信息，图像融合技术应运而生。由于图像融合系统的各个探测器的光轴很难保证严格平行，而且各个探测器的焦距和视场可能存在一定的差异，因此，不同探测器在观察同一目标时，各自得到的源图像通常在空间上并不是一一对应的。所以融合系统需要对多源图像进行配准校准，使多源图像在空间上达到最大程度的对应，这就涉及到关于大视场宽光谱多光路空间配准的检校方法。

图像融合在军事作战领域具有不可替代的作用，主要应用于夜视情况下，即微光和红外的融合，其中，图像融合系统中微光和红外光路空间配准（两幅图像的缩放、位移和旋转）精度降低，直接影响融合信息量和极限分辨力大大降低，从而使融合效果大打折扣。

原来微光和红外光路空间配准的调校方法是：被测产品安装在二维转台上，首先通过转动产品分别测出微光通道和红外通道的视场，两幅图像缩放，大小匹配，然后对将微光光路和红外光路的两个探测器进行调校，调校方式就是同时平移和旋转两个探测器。平移的目的是使两光轴重合，旋转的目的是使两探测器没有相对倾斜。如果相对倾斜，就会导致两光轴在中心视场是重合的，越离开中心视场，越不重合，解决方法是转动产品，使仪器分划成像在产品全视场内，如果边缘分划不重合，需要重新校正，就这样反复校正，直至转动产品使分划像在其全视场内的任何位置均重合为止，采用的是一种逼近方法，完成一套融合产品的校正时间大约2小时，产品调校效率非常低，且精度不高。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用于大视场宽光谱多光路空间配准的检校装置，以解决现有的微光和红外光路空间配准的调校方法校正时间长，调校效率低，且精度不高的问题。

为解决上述技术问题，本发明提供一种用于大视场宽光谱多光路空间配准的检校装置，包括待测产品、若干组反射镜组、若干组靶标组件和若干组离轴抛物镜组件；

所述待测产品、若干组所述反射镜组件和若干组所述靶标组件沿水平方向依次排布；

在若干组所述靶标组件的靶标后均安装有导电玻璃辐射，使所述靶标组件同时具备微光特性和红外特性；

若干组所述离轴抛物镜组件并列排放组成平行光管，使其视场增大；

通过改变所述平行光管光轴的夹角，满足任何视场融合产品的调校需求。

可选的，所述反射镜组件、所述靶标组件和所述离轴抛物镜组件均设置有三组，所述反射镜组件和所述靶标组件均为并列排布。

可选的，所述离轴抛物镜组件和所述靶标组件沿竖直方向依次固定连接于所述基座的一端，构成宽光谱长焦平行光管。

可选的，所述靶标组件倾斜朝上。

可选的，所述离轴抛物镜组件倾斜朝下。

可选的，所述反射镜组件固定连接于所述基座的另一端。