[发明专利]光学字符识别测试方法、装置、可读存储介质及终端设备

权利要求书

1.一种光学字符识别测试方法，其特征在于，包括：

根据预设的数据模板和参数配置信息生成光学字符识别测试数据，并标记与所述光学字符识别测试数据对应的标签；

将所述光学字符识别测试数据输入预设的光学字符识别引擎中进行识别，并获取所述光学字符识别引擎输出的识别结果；

将所述识别结果与所述标签进行比对，并根据比对结果确定所述光学字符识别引擎的识别准确率。

2.根据权利要求1所述的光学字符识别测试方法，其特征在于，所述根据预设的数据模板和参数配置信息生成光学字符识别测试数据，包括：

根据所述参数配置信息确定所述数据模板中的待填写位置以及填写形式；

根据所述参数配置信息生成数字标识；

将所述数字标识按照所述填写形式填写入所述数据模板中的待填写位置，生成所述光学字符识别测试数据。

3.根据权利要求2所述的光学字符识别测试方法，其特征在于，所述根据所述参数配置信息生成数字标识，包括：

读取所述参数配置信息中的数字标识长度和连续指示参数；

若所述连续指示参数为预设的第一数值，则生成连续的符合所述数字标识长度的数字标识。

4.根据权利要求3所述的光学字符识别测试方法，其特征在于，还包括：

若所述连续指示参数为预设的第二数值，则读取所述参数配置信息中的数字标识个数；

按照所述数字标识个数，随机生成符合所述数字标识长度的数字标识。

5.根据权利要求2所述的光学字符识别测试方法，其特征在于，所述标记与所述光学字符识别测试数据对应的标签，包括：

将所述数字标识标记为与所述光学字符识别测试数据对应的标签。

6.根据权利要求1所述的光学字符识别测试方法，其特征在于，所述将所述识别结果与所述标签进行比对，包括：

确定所述标签的长度；

从所述识别结果中提取出连续的数字串，并确定提取出的各个数字串的长度；

根据各个数字串的长度选取等长数字串，所述等长数字串与所述标签的长度一致；

将选取出的各个等长数字串分别与所述标签进行比对，判断是否存在与所述标签相等的等长数字串；

若存在与所述标签相等的等长数字串，则确定所述光学字符识别引擎识别正确；

若不存在与所述标签相等的等长数字串，则确定所述光学字符识别引擎识别错误。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的光学字符识别测试方法，其特征在于，所述根据比对结果确定所述光学字符识别引擎的识别准确率，包括：

根据所述比对结果统计第一次数和第二次数，所述第一次数为所述光学字符识别引擎识别正确的次数，所述第二次数为所述光学字符识别引擎识别错误的次数；

根据所述第一次数和所述第二次数计算所述光学字符识别引擎的识别准确率。

8.一种光学字符识别测试装置，其特征在于，包括：

测试数据生成模块，用于根据预设的数据模板和参数配置信息生成光学字符识别测试数据，并标记与所述光学字符识别测试数据对应的标签；

识别模块，用于将所述光学字符识别测试数据输入预设的光学字符识别引擎中进行识别，并获取所述光学字符识别引擎输出的识别结果；

识别结果比对模块，用于将所述识别结果与所述标签进行比对，并根据比对结果确定所述光学字符识别引擎的识别准确率。

9.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的光学字符识别测试方法的步骤。

10.一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7中任一项所述的光学字符识别测试方法的步骤。