[发明专利]一种GIL局部放电源定位方法和系统

权利要求书

1.一种GIL局部放电源定位方法，其特征在于，包括步骤：

(1)建立与实际GIL尺寸完全相同的仿真模型，并对所述仿真模型的局部放电源进行光学信号仿真，以构建局部放电仿真指纹库Ψ；其中步骤(1)包括：

(a)在所述仿真模型中选取N个点模拟局部放电源的位置；

(b)采用M个仿真探测点对各局部放电源的光辐照度进行采集；

(c)将各仿真探测点的局部放电信号互相相减，以得到两个仿真探测点之间的光辐照度差值δ′_h,j：

其中，D表示相减后的局部放电仿真指纹的维数，和分别表示仿真探测点a和b采集到的位于第j个位置的局部放电源所散发的光辐照度，M对应于M个仿真探测点，Z表示正整数；

(d)将同一个局部放电源的所有光辐照度差值进行归一化处理，得到归一化处理后的光伏照度值δ_h,j；

(e)采用主成分分析特征提取算法，对N个向量[δ_1,j,δ_2,j,…,δ_D,j]^T提取P个主成分来作为局部放电仿真指纹列向量

(f)将所有的局部放电仿真指纹列向量Ψ_j组合，构建光学局部放电仿真指纹库Ψ：

其中，P对应上述P个主成分，以表示仿真指纹的维度，并且PD；N对应上文所述的N个点，以表示仿真局部放电源的数量，j＝1,2，……N；

(2)拟合出GIL中所有位置的局部放电指纹，以将所述光学局部放电仿真指纹库Ψ扩展为Ψ’；

(3)构建Bagging-KELM模型，所述Bagging-KELM模型具有若干个基分类器，采用Bagging算法对扩展后的光学局部放电仿真指纹库Ψ’进行重新采样，以获得随机选择的若干个子指纹库，所述若干个子指纹库与若干个基分类器对应，采用各子指纹库对各基分类器进行训练，以使得每一个基分类器均输出局部放电源的位置坐标，所述Bagging-KELM模型的输出为各基分类器输出的局部放电源的位置坐标的平均值；

(4)将实际检测到的GIL局部放电的光学指纹输入到经过训练的Bagging-KELM模型中，以输出得到实际局部放电源的位置。

2.如权利要求1所述的GIL局部放电源定位方法，其特征在于，在所述步骤(2)中，采用双调和样条插值法拟合出GIL中所有位置的局部放电指纹。

3.如权利要求1所述的GIL局部放电源定位方法，其特征在于，所述基分类器的数量为10个。

4.如权利要求1所述的GIL局部放电源定位方法，其特征在于，在所述步骤(4)中，采用光学传感器获得GIL局部放电的光学指纹。