[发明专利]一种内存性能测试方法、装置及芯片

说明书

本申请提供了一种内存性能测试方法、装置及芯片，应用于芯片的主核处理器中，该芯片外挂有内存，该芯片还包括至少一个从核处理器，该方法包括：主核处理器向至少一个从核处理器分别发送第一中断IPI指令，第一IPI指令用于指示开始执行内存的性能测试任务；在等待时间到达时，向每个从核处理器发送第二IPI指令，该第二IPI指令用于指示停止执行内存的性能测试任务；获得每个从核处理器在执行内存的性能测试任务时所测试的内存的内存空间占用的内存空间大小；根据发送第一IPI指令与发送第二IPI指令之间的时间差和每个从核处理器所测试的内存的内存空间占用的内存空间大小，确定内存的内存性能测试结果。由此提供了内存性能测试结果的准确性。

技术领域

本申请涉及存储技术领域，尤其涉及一种内存性能测试方法、装置及芯片。

背景技术

内存是计算机系统中非常重要的部件，它是外存与CPU进行沟通的桥梁。通常情况下，计算机系统中几乎所有的程序都是在内存中运行的，同时由于现阶段内存的性能还明显低于CPU、一级缓存(Level 1 Cache，L1C)和二级缓存(Level 2 Cache，L2C)等部件的性能，因此内存本身的性能对整个计算机系统的性能影响非常大。基于以上因素考量，在芯片开发和PCB印刷电路板板设计中对内存进行测试以获知内存的最佳性能数据就显得格外重要，尤其是在芯片开发中，因为除了不同类型内存颗粒之间本身的性能差异外，还涉及到整个内存系统的集成，其中的各个环节都可能会影响到整个内存系统的性能。

现有的内存性能测试方法通常是在操作系统(Operation System，OS)的应用层通过高级语言来开发性能测试程序用以测试内存的性能，其基本实现原理是通过类似于calloc()的函数申请一段内存空间，然后在测试开始时记录下测试的起始时间并开始对这段空间进行读写访问，待这段内存访问完成后再记录下测试的结束时间，最后通过两个时间差和访问的内存空间大小计算出访问内存的速率并通过打印函数将该性能值显示出来。该方法虽然实现起来比较简单，也能直观地观察到内存的性能，但是该方法得到的性能数据并非内存的极限性能，而只是该单核能访问内存的最大速率，即该单核的极限性能，也就是说该方法无法测出内存的最大带宽，即最佳性能；此外，采用高级语言编写测试程序，高级语言虽然易于理解，便于程序开发，但却存在代码冗长，运行速度慢、效率低的缺点，也就是说，利用高级语言开发的性能测试程序并不适用于对时间和效率要求都很严格的内存性能测试。

因此，如何准确地测试出内存的性能是值得考虑的技术问题之一。

发明内容

有鉴于此，本申请提供一种内存性能测试方法、装置及芯片，用以准确地测试出内存的性能。

具体地，本申请是通过如下技术方案实现的：

根据本申请的第一方面，提供一种内存性能测试方法，应用于芯片的主核处理器中，所述芯片外挂有内存，所述芯片还包括至少一个从核处理器，以及所述方法，包括：

主核处理器向所述至少一个从核处理器发送第一处理器间中断IPI指令，第一IPI指令用于指示每个从核处理器开始执行所述内存的性能测试任务；

在等待时间到达时，向每个从核处理器发送第二IPI指令，所述第二IPI指令用于指示每个从核处理器停止执行所述内存的性能测试任务；

获得每个从核处理器在执行内存的性能测试任务时所测试的内存的内存空间占用的内存空间大小；

根据发送第一IPI指令与发送第二IPI指令之间的时间差和每个从核处理器所测试的内存的内存空间占用的内存空间大小，确定所述内存的内存性能测试结果。

根据本申请的第二方面，提供另一种内存性能测试方法，应用于芯片的每个从核处理器中，所述芯片外挂有内存，所述芯片还包括主核处理器，以及所述方法，包括：

每个从核处理器接收主核处理器发送的第一处理器间中断IPI指令；