[发明专利]测试主板的上电控制电路、测试治具、测试系统以及方法

说明书

本发明公开了一种测试主板的上电控制电路、测试治具、测试系统以及方法，该测试主板的上电控制电路包括输入端、输出端、控制端以及开关电路，输入端、输出端以及控制端均与开关电路电连接；输入端用于输入供电电源；控制端用于接收表征测试主板的放置方向是否正确的检测信号，并根据检测信号控制开关电路的导通与断开；输出端用于在开关电路导通时向测试主板供电。本发明能够解决测试主板放置方向错误时，直接上电会烧毁测试主板的问题，只有在测试主板放置方向正确时，才会对测试主板供电，从而防止方向放置错误的误操作所造成的损坏。

技术领域

本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种测试主板的上电控制电路、测试治具、测试系统以及方法。

背景技术

电子设备的主板在生产测试环节，需要配合使用测试治具，并且仅当测试主板方向正确地放置在测试治具上，才能够保证测试主板的正常测试。然而，现有的测试主板多为结构上对称分布的正方形或者矩形，放置时即使方向错误，例如，与正确放置方向错位了180°，仍然可以放入测试治具，由此，如果不对测试主板的放置方向进行检测，直接对测试主板上电存在导致测试主板被烧毁的可能。

针对上述问题，现有的检测装置大多采用光电传感器对测试主板进行检测，但是该方案灵敏度较低。并且，当测试主板与测试探针平面存在倾角而没有完全放置在测试底座时，光电传感器无法检测出测试主板是否存在异常此外，光电传感器也无法检测出测试主板在测试底座上是否放置方向错误。

发明内容

本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术中测试主板放置方向错误时，直接上电会损坏测试主板的缺陷，提供一种测试主板的上电控制电路、测试治具、测试系统以及方法。

本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题：

第一方面，本发明提供一种测试主板的上电控制电路，所述上电控制电路包括：输入端、输出端、控制端以及开关电路；其中，

所述输入端、所述输出端以及所述控制端均与所述开关电路电连接；

所述输入端用于输入供电电源；

所述控制端用于接收表征所述测试主板的放置方向是否正确的检测信号，并根据所述检测信号控制所述开关电路的导通与断开；

所述输出端用于在所述开关电路导通时向所述测试主板供电。

较佳地，所述开关电路包括MOS管以及MOS管控制电路，所述MOS管的漏极与所述上电控制电路的输出端电连接，所述MOS管的源极与所述上电控制电路的输入端电连接，所述MOS管的栅极与所述MOS管控制电路电连接，所述MOS管控制电路用于根据所述输入端以及所述控制端的输入信号控制所述MOS管的导通与断开。

较佳地，所述MOS管控制电路包括：第一三极管、第二三极管、第一电阻、第二电阻以及第三电阻；

所述第一三极管的基极与所述控制端电连接，所述第一三极管的基极同时连接所述第一电阻的一端；所述第一三极管的集电极与所述第二三极管的基极连接，所述第一三极管的集电极同时连接所述第二电阻的一端；所述第一三极管的发射极接地；

所述第二三极管的集电极与所述第三电阻的一端连接，所述第二三极管的发射极接地，所述第二三极管的集电极与MOS管的栅极电连接；

所述第一电阻、所述第二电阻以及所述第三电阻的另一端与所述输入端电连接。

较佳地，所述第一三极管和所述第二三极管采用NPN型三极管。

较佳地，所述MOS管采用PMOS管。

较佳地，所述控制端具体用于根据低电平的检测信号控制所述开关电路导通，根据高电平的检测信号控制开关电路断开。