[发明专利]用于识别吸收式天线罩衬层的方法和设备

说明书

本发明提出一种用于识别在用于发射（3）电磁辐射并且接收（5）在对象处反射的部分辐射的设备上的吸收式天线罩衬层（4）的方法和设备，其中天线罩（2）遮盖所述设备的至少一个天线（1），其中混频器（8）将调频发射信号（3）与由所述至少一个天线（1）接收的信号（5）混合，对所述混频器（8）的混合产物进行模拟数字转换（9），将经数字化的信号变换（10）成二维谱（40），并且在第一步骤（11）中，利用传递函数（12）映射二维谱，以及在第二步骤（13）中，将已利用所述传递函数（12）映射的二维谱（40）与相关矩阵（14）相关，用以执行模式识别。

技术领域

本发明涉及一种用于识别在用于发射电磁辐射并且接收在对象处反射的部分辐射的设备上的吸收式天线罩衬层的方法和设备，其中，天线罩遮盖该设备的至少一个天线，并且其中混频器将调频发射信号与由至少一个天线接收的信号混合，将混频器的混合产物进行模拟数字转换，将经数字化的信号变换为二维谱，并且在第一步骤中利用传递函数对二维谱进行映射，并且在第二步骤中使已利用传递函数映射的二维谱与相关矩阵相关，用以执行模式识别。

背景技术

从DE 10 2009 001 231 A1中已知FMCW雷达定位设备，所述FMCW雷达定位设备具有通过天线罩遮盖的天线、用于将调频发射信号与由天线接收的信号混合的混频器、用于将混频器的混合产物记录为时间相关信号的装置、用于计算时间相关信号的谱的装置和用于探测天线罩上的反射性衬层的装置，其中用于探测反射性衬层的装置被构造用于分析时间相关信号并且根据该信号的振幅确定在天线罩处的反射规模。

发明内容

发明核心和优点

本发明的核心是认识用于识别用于发射电磁辐射并且接收由对象反射的部分辐射的设备的吸收式天线罩衬层（Radombelag）的方法和设备。由此可以可靠地识别传感器盲性（Sensorblindheit），或者可以识别作用范围退化，并且从而可以对对象探测系统的可能性能损失做出量化陈述。

根据本发明，这通过独立权利要求的特征来解决。由从属权利要求得出有利的改进方案和构型。

吸收式雷达传感器衬层或吸收性雷达传感器衬层具有以下缺点：所发射的发射功率仅小部分通过传感器衬层反射，并且因此天线罩上的衬层不能通过特别的反射信号识别，而是所发射的功率部分地被吸收，即能量通过衬层被吞没（verschlucken），使得不能平常地识别吸收式天线罩衬层或吸收性天线罩衬层的识别。在本发明的范围中表明如何能够仍然通过分析内部噪声信号来识别这种天线罩衬层。

此外有利的是，根据所描述的根据本发明的方法特征设置相应的设备和设备的构型。

以有利的方式规定，这种传感器的高频装置的输出信号在数字化之后被变换成二维谱。有利地可以规定，二维谱是速度距离谱（Geschwindigkeits-Abstands-Spektrum）。二维谱或者可以是一次（einmal）在传感器距离的方向上以及在关于对象相对速度的第二维上具有连续值的谱；但是也可能的是，二维谱由于离散变换不仅在第一维、也即对象距离上、而且在第二维、即对象相对速度上具有离散值并且因此存在离散二维谱。

此外，有利的是，传递函数尤其是通过使用显著性水平来确定二维谱中的噪声水平。对适当的传递函数的要求基本上在于：使用连续的以及单调上升或单调下降的函数。在实践中已经表明，可以通过Chi²函数描述所接收的雷达功率的谱分布。因此，有利的是，借助于如从统计学中已知的分布函数来执行Chi²测试。在这里，分布函数说明二维谱中噪声水平的概率分布。分布函数的显着性水平描述所有噪声功率值均低于所选择的电平。在此，例如可以选择显著性水平，使得噪声电平检测50％。根据本发明的一种有利的改进方案，可能有利的是，改变分布函数的显著性水平用以适当地调整噪声电平。