[发明专利]一种荧光免疫分析仪及其自主校正方法与试剂卡插装槽座

权利要求书

1.一种荧光免疫分析仪的自主校正方法，所述荧光免疫分析仪包括可沿纵向往复移动地安装在其机架上的试剂卡插装槽座，其特征在于，所述自主校正方法依序包括以下步骤：

机头定位步骤，调节已与所述试剂卡插装槽座脱离耦合的槽座连接机头的位置，使所述槽座连接机头沿所述纵向前行移动至触发末端到位监测传感器，及在所述前行移动的方向上使槽座牵引机头上的抵推面部位于外凸挡臂的正下游侧；所述外凸挡臂固设在所述试剂卡插装槽座的基体上，且相对所述基体的前段部的筒形包络面朝外凸起；沿所述前行移动的方向，所述前段部为所述基体位于所述外凸挡臂的下游侧的段部，所述筒形包络面沿所述纵向延伸布置；

复位校正步骤，驱使所述槽座牵引机头沿所述纵向后退，而复位至触发始端到位监测传感器；沿所述前行移动的方向，所述始端到位监测传感器位于所述末端到位监测传感器的上游处；在所述抵推面部与所述外凸挡臂抵推耦合及所述槽座连接机头与所述试剂卡插装槽座牵引耦合的两种耦合状态下，所述抵推面部在所述纵向上相对所述试剂卡插装槽座的位置为相持平布置。

2.根据权利要求1所述的自主校正方法，其特征在于：

所述外凸挡臂自所述试剂卡插装槽座的槽侧壁的外壁面朝外凸起地固设在所述外壁面上，所述抵推面部位于所述槽座连接机头上。

3.根据权利要求2所述的自主校正方法，其特征在于，所述调节已与所述试剂卡插装槽座脱离耦合的槽座连接机头的位置的步骤依序包括以下步骤：

(1)驱使已移至所述试剂卡插装槽座的正上方处的所述槽座牵引机头在所述纵向上前行，至触发所述末端到位监测传感器；(2)驱使所述槽座牵引机头沿横向横移，而在所述横向上移至所述基体的外侧；(3)驱使所述槽座连接机头下降，至所述抵推面部位于与所述外凸挡臂等高位置处，且所述抵推面部在所述前行移动的方向上位于所述外凸挡臂的正下游侧；或，

(1)所述槽座牵引机头在所述纵向上前行，至触发所述末端到位监测传感器；(2)驱使所述槽座牵引机头沿横向横移，而在所述横向上移至所述基体的外侧；(3)驱使所述槽座连接机头下降，至所述抵推面部位于与所述外凸挡臂等高位置处，且所述抵推面部在所述前行移动的方向上位于所述外凸挡臂的正下游侧；或，

(1)所述槽座牵引机头在所述纵向上前行，至触发所述末端到位监测传感器；(2)驱使所述槽座连接机头下降，至所述抵推面部位于与所述外凸挡臂等高位置处；(3)驱使所述槽座牵引机头沿横向横移，而在所述横向上移至所述基体的外侧，且所述抵推面部在所述前行移动的方向上位于所述外凸挡臂的正下游侧。

4.根据权利要求1至3任一项权利要求所述的自主校正方法，其特征在于：

所述外凸挡臂的上端部具有倾斜布置的机头导入面；

所述槽座牵引机头的连接操纵机构为用于驱使所述槽座连接机头升降的直线位移输出装置；所述槽座连接机头与所述试剂卡插装槽座的牵引耦合连接为槽板插装连接或杆孔插装连接；

所述始端到位监测传感器与所述末端到位监测传感器均为光电传感器；

所述荧光免疫分析仪为并排地布设有多个所述试剂卡插装槽座的多通道荧光免疫分析仪；

所述纵向为插卡方向所在的方向，所述插卡方向沿所述前行移动的方向。

5.根据权利要求4所述的自主校正方法，其特征在于：

所述试剂卡插装槽座的插卡容纳槽的两端敞口，且一个槽口为插卡槽口，另一个槽口为退卡槽口；

与所述槽座连接机头可分离地耦合连接的牵引力接收部布设在所述试剂卡插装槽座的退卡槽口端部上，且在所述退卡槽口端部上布设有用于关闭所述退卡槽口处的过卡通道的常闭式插卡到位止挡机构；在与所述牵引力接收部连接时和/或连接后，所述槽座连接机头用于对所述插卡到位止挡机构施加驱动动力，以驱使所述插卡到位止挡机构从常闭状态切换至开启状态，以开启所述退卡槽口处的过卡通道；

在所述插卡到位止挡机构临近所述插卡槽口的一侧，布设有退卡辅助机构；所述退卡辅助机构具有能伸入所述试剂卡插装槽座的插卡容纳槽内的防退止挡件，用于在退卡时止挡在试剂卡的后端部上，以能随所述试剂卡插装槽座沿插卡反向移动的过程中，能驱使试剂卡从所述退卡槽口退出。