[发明专利]一种利用光谱差分平场矫正检测镜头洁净度的方法

权利要求书

1.一种利用光谱差分平场矫正检测镜头洁净度的方法，其特征在于，包括如下步骤：

（1）搭建平场测试光路，所述平场测试光路包括多光谱光源、待测镜头和单色相机；将单色相机的感光面垂直于待测镜头的镜头光轴放置，并平移至待测镜头的出光位置；

（2）选定光谱，测量不同光谱下的明场图像数据和暗场图像数据；

（3）针对每个像素，进行光谱差分平场校正运算：

A_iA_j光谱差分=（A_i光谱的明场数据-A_i光谱的暗场数据）/（A_j光谱的明场数据-A_j光谱的暗场数据）；

其中，A_i、A_j分别是两种不同的光谱，i∈[1,N]，j∈[1,N]；N为光谱的个数；

（4）将各个像素的光谱差分结果的矩阵以图像形式显示，进行镜头洁净度的判断；

定义明场数据是视场中心最亮处值是饱和值的80%~90%时的数据，暗场数据是没有信号输入时的数据；固定曝光时间，调整光源亮度，进行明场、暗场图像数据采集。

2.根据权利要求1所述的利用光谱差分平场矫正检测镜头洁净度的方法，其特征在于：步骤（1）中，所述多光谱光源为窄波段多光谱均匀面光源。

3.根据权利要求1所述的利用光谱差分平场矫正检测镜头洁净度的方法，其特征在于，步骤（2）中，针对不同光谱，单独测量每种光谱下的暗场图像数据，获取每个像素在各个光谱下的明场图像数据和暗场图像数据。

4.根据权利要求3所述的利用光谱差分平场矫正检测镜头洁净度的方法，其特征在于：步骤（3）中，包括光谱A₁、光谱A₂、光谱A₃、……光谱A_N-1、光谱A_N，所述光谱差分平场校正运算遍历上述N个光谱的两两差分组合，获得N×（N-1）种光谱差分组合。

5.根据权利要求4所述的利用光谱差分平场矫正检测镜头洁净度的方法，其特征在于：所述光源选取为RGB三色窄波段均匀面光源，针对每个像素在RGB三色光谱下的明场数据及暗场数据，进行如下平场校正运算：

RG光谱差分结果=（R光谱明场数据-R光谱暗场数据）/（G光谱明场数据-G光谱暗场数据）；

GR光谱差分结果=（G光谱明场数据-G光谱暗场数据）/（R光谱明场数据-R光谱暗场数据）；

RB光谱差分结果=（R光谱明场数据-R光谱暗场数据）/（B光谱明场数据-B光谱暗场数据）；

BR光谱差分结果=（B光谱明场数据-B光谱暗场数据）/（R光谱明场数据-R光谱暗场数据）；

BG光谱差分结果=（B光谱明场数据-B光谱暗场数据）/（G光谱明场数据-G光谱暗场数据）；

GB光谱差分结果=（G光谱明场数据-G光谱暗场数据）/（B光谱明场数据-B光谱暗场数据）；

将所得六个光谱差分结果的矩阵分别以六幅图像形式显示，用于镜头洁净度的判断。