[发明专利]基于约束优化的模拟电路故障参数范围确定方法有效
申请号: | 202011032139.6 | 申请日: | 2020-09-27 |
公开(公告)号: | CN112287628B | 公开(公告)日: | 2023-06-02 |
发明(设计)人: | 杨成林;龙兵;刘震;周秀云 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G06F30/367 | 分类号: | G06F30/367;G06N3/126;G06F111/04;G06F111/06 |
代理公司: | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人: | 温利平 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 约束 优化 模拟 电路 故障 参数 范围 确定 方法 | ||
1.一种基于约束优化的模拟电路故障参数范围确定方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:获取模拟电路中元件数量C和各个元件的参数标称值xjN,j=1,2,…,C,确定模拟电路在预设测点的传输函数,获取当前故障状态下模拟电路在预设测点的故障输出电压Z,以及所检测出的故障元件序号c;
S2:基于遗传算法获取故障元件参数范围下限,具体步骤包括:
S2.1:将元件参数向量X=[x1,x2,…,xC]作为遗传算法种群的个体,生成N个个体构成初始种群P,具体方法为:根据需要设置故障元件c的参数值xc的故障取值范围,初始种群P中每个个体中故障元件c的参数值xc在故障取值范围内取值,其余元件j′的参数xj′在容差范围(xj′N×(1-α),xj′N×(1+α))内取值,其中xj′N表示元件j′的参数标称值,j′=1,2,…,Cj′≠c;
S2.2:初始化迭代次数t=1;
S2.3:对种群P中的个体进行交叉和变异,得到新种群Q,在交叉和变异过程中需要保证故障元件c的参数值xc在故障取值范围内取值,非故障元件的参数值在容差范围内取值;
S2.4:将种群P和种群Q进行合并,得到合并种群S;
S2.5:采用以下公式分别计算合并种群S中每个个体Xn的误差En:
En=||H(Xn)-Z||
其中,n=1,2,…,2N;
S2.6:对于每个个体采用以下公式计算该个体的适应度值gn:
其中,表示当前合并种群S中第n个个体所对应元件参数向量中故障元件c的参数值,xcN表示故障元件c的参数标称值;
S2.7:根据适应度值优选出下一代N个个体,构成下一代种群P′;
S2.8:判断迭代次数t是否达到预设的最大迭代次数tmax,如果未达到,则进入步骤S2.9,否则进入步骤S2.10;
S2.9:令种群P=P′,t=t+1,返回步骤S2.3;
S2.10:在最后一代种群P′的N个个体中筛选出误差小于β的个体,从这些个体的故障元件c的参数值中选择最小值作为故障元件c的参数范围下限xcL;
S3:基于遗传算法获取故障元件参数范围上界,具体步骤包括:
S3.1:将元件参数向量X=[x1,x2,…,xC]作为遗传算法种群的个体,生成N个个体构成初始种群P,具体方法为:根据需要设置故障元件c的参数值xc的故障取值范围,初始种群P中每个个体中故障元件c的参数值xc在故障取值范围内取值,其余元件j′的参数xj′在容差范围(xj′N×(1-α),xj′N×(1+α))内取值;
S3.2:初始化迭代次数t=1;
S3.3:对种群P中的个体进行交叉和变异,得到新种群Q,在交叉和变异过程中需要保证故障元件c的参数值xc在故障取值范围内取值,非故障元件的参数值在容差范围内取值;
S3.4:将种群P和种群Q进行合并,得到合并种群S;
S3.5:分别计算合并种群S中每个个体Xn的误差En;
S3.6:对于每个个体采用以下公式计算该个体的适应度值gn:
S3.7:根据适应度值优选出下一代N个个体,构成下一代种群P′;
S3.8:判断迭代次数t是否达到预设的最大迭代次数tmax,如果未达到,则进入步骤S3.9,否则进入步骤S3.10;
S3.9:令种群P=P′,t=t+1,返回步骤S3.3;
S3.10:在最后一代种群P′的N个个体中筛选出误差小于β的个体,从这些个体的故障元件c的参数值中选择最大值作为故障元件c的参数范围上限xcU。
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