[发明专利]一种获取表面镀覆薄层厚度的方法

权利要求书

1.一种获取基底材料表面镀覆层厚度的方法，其特征在于：

测试整体试件的厚度d和整体试件的密度ρ，整体试件的密度ρ优选排液法或气体置换法测定，整体试件包括基底材料和基底材料表面的镀覆层；

通过材料手册获取或通过去除掉镀覆层后再通过排液法或气体置换法测试获取基底材料的密度；通过材料手册获取或通过超声波测试或射线测试获取镀覆层的密度；

镀覆层的厚度为：。

2.根据权利要求1所述的一种获取基底材料表面镀覆层厚度的方法，其特征在于：镀覆层的厚度为1μm以上。

3.根据权利要求1所述的一种获取基底材料表面镀覆层厚度的方法，其特征在于：整体试件的厚度d通过数显千分尺进行测量得到。

4.根据权利要求1所述的一种获取基底材料表面镀覆层厚度的方法，其特征在于：整体试件中镀覆层的材料为金属化层、陶瓷涂层、玻璃涂层或高分子涂层。

5.根据权利要求4所述的一种获取基底材料表面镀覆层厚度的方法，其特征在于：金属化层为金属镀层或PCB覆铜层。

6.根据权利要求1所述的一种获取基底材料表面镀覆层厚度的方法，其特征在于：整体试件的密度ρ选用排液法或气体置换法测定。

7.根据权利要求6所述的一种获取基底材料表面镀覆层厚度的方法，其特征在于：排液法采用排水法，当镀覆层、基底材料体系含与水反应的组成分时，需更换为惰性浸渍液进行测试，当整体试件含有无法忽略的孔隙、缝隙或裂缝时，采用气体置换法进行整体试件的密度ρ测定。

8.根据权利要求6或7所述的一种获取基底材料表面镀覆层厚度的方法，其特征在于：整体试件的密度ρ采用排液法测定步骤包括：

第一步，使用高精度天平测定整体试件的质量；

第二步，使用高精度天平测定整体试件完全浸没在浸渍液中的表观质量，并记录测试时浸渍液温度时浸渍液的密度；

第三步，整体试件的密度ρ为：ρ。